半导体物理学(刘恩科)第七版 完整课后题答案
课后习题答案
第一章习题
1.设晶格常数为a的一维晶格,导带极小值附近能量Ec(k)和价带极大值附近
能量EV(k)分别为:
h2k2h2(k k1)2h2k213h2k2
Ec= ,EV(k)
3m0m06m0m0m0为电子惯性质量,k1 (1)禁带宽度;
(2) 导带底电子有效质量; (3)价带顶电子有效质量;
(4)价带顶电子跃迁到导带底时准动量的变化 解:(1)
导带:
2 2k2 2(k k1)由 03m0m0
3
k14
d2Ec2 22 28 2
2 0
3m0m03m0dk得:k 所以:在k 价带:
dEV6 2k
0得k 0dkm0
d2EV6 2又因为 0,所以k 0处,EV取极大值2
m0dk 2k123
0.64eV 因此:Eg EC(k1) EV(0)
412m0
2
2
dECdk2
3m0 8
a
,a 0.314nm。试求:
3
k处,Ec取极小值4
(2)m
*nC
3k k1
4
课后习题答案
(3)m
*nV
2 2
dEVdk2
k 01
m06
(4)准动量的定义:p k所以: p ( k)
3
k k1
4
3
( k)k 0 k1 0 7.95 10 25N/s
4
2. 晶格常数为0.25nm的一维晶格,当外加102V/m,107 V/m的电场时,试分别
计算电子自能带底运动到能带顶所需的时间。 解:根据:f qE h
(0
t1
1.6 10
k k 得 t t qE
a
) 10)
8.27 10 13s
2
19
8.27 10 8s
(0
t2
1.6 10 19 107
补充题1
分别计算Si(100),(110),(111)面每平方厘米内的原子个数,即原子面密度
(提示:先画出各晶面内原子的位置和分布图)
Si在(100),(110)和(111)面上的原子分布如图1所示:
(a)(100)晶面 (b)(110)晶面
课后习题答案
(c)(111)晶面
11 4 22
(1002 2 6.78 1014atom/cm2
82
aa(5.43 10)
112 4 2
4 9.59 1014atom/cm2(1102a a2a2
114 2 2
4 1112(4 7.83 1014atom/cm2
2
3aa 2a
2
补充题2
271
( coska cos2ka), 一维晶体的电子能带可写为E(k) 2
8ma8
式中a为 晶格常数,试求
(1)布里渊区边界; (2)能带宽度;
(3)电子在波矢k状态时的速度;
*
(4)能带底部电子的有效质量mn;
(5)能带顶部空穴的有效质量m*p
解:(1)由
dE(k)n
0 得 k dka
(n=0, 1, 2…) 进一步分析k (2n 1)
a
,E(k)有极大值,
课后习题答案
E(k)MAXk 2n
2 2 2
ma
a
时,E(k)有极小值
所以布里渊区边界为k (2n 1)
a
(2)能带宽度为E(k)MAX E(k)MIN(3)电子在波矢k状态的速度v (4)电子的有效质量
2 2 ma2
1dE 1
(sinka sin2ka) dkma4
2m
m 2
1dE
(coska cos2ka)2
2dk
*
n
能带底部 k
2n *
所以mn 2m a
(2n 1)
, a
(5)能带顶部 k 且mp mn,
*
*
所以能带顶部空穴的有效质量mp
*
2m
3
半导体物理第2章习题
1. 实际半导体与理想半导体间的主要区别是什么?
答:(1)理想半导体:假设晶格原子严格按周期性排列并静止在格点位置上,实际半导体中原子不是静止的,而是在其平衡位置附近振动。
(2)理想半导体是纯净不含杂质的,实际半导体含有若干杂质。 (3)理想半导体的晶格结构是完整的,实际半导体中存在点缺陷,线缺陷和面缺陷等。
2. 以As掺入Ge中为例,说明什么是施主杂质、施主杂质电离过程和n型半导体。
As有5个价电子,其中的四个价电子与周围的四个Ge原子形成共价键,还剩余一个电子,同时As原子所在处也多余一个正电荷,称为正离子中心,所以,一个As原子取代一个Ge原子,其效果是形成一个正电中心和一个多余的电子.
课后习题答案
多余的电子束缚在正电中心,但这种束缚很弱,很小的能量就可使电子摆脱束缚,成为在晶格中导电的自由电子,而As原子形成一个不能移动的正电中心。这个过程叫做施主杂质的电离过程。能够施放电子而在导带中产生电子并形成正电中心,称为施主杂质或N型杂质,掺有施主杂质的半导体叫N型半导体。 3. 以Ga掺入Ge中为例,说明什么是受主杂质、受主杂质电离过程和p型半导体。
Ga有3个价电子,它与周围的四个Ge原子形成共价键,还缺少一个电子,于是在Ge晶体的共价键中产生了一个空穴,而Ga原子接受一个电子后所在处形成一个负离子中心,所以,一个Ga原子取代一个Ge原子,其效果是形成一个负电中心和一个空穴,空穴束缚在Ga原子附近,但这种束缚很弱,很小的能量就可使空穴摆脱束缚,成为在晶格中自由运动的导电空穴,而Ga原子形成一个不能移动的负电中心。这个过程叫做受主杂质的电离过程,能够接受电子而在价带中产生空穴,并形成负电中心的杂质,称为受主杂质,掺有受主型杂质的半导体叫P型半导体。
4. 以Si在GaAs中的行为为例,说明IV族杂质在III-V族化合物中可能出现的双性行为。
Si取代GaAs中的Ga原子则起施主作用; Si取代GaAs中的As原子则起受主作用。导带中电子浓度随硅杂质浓度的增加而增加,当硅杂质浓度增加到一定程度时趋于饱和。硅先取代Ga原子起施主作用,随着硅浓度的增加,硅取代As原子起受主作用。 5. 举例说明杂质补偿作用。
当半导体中同时存在施主和受主杂质时, 若(1) ND>>NA
因为受主能级低于施主能级,所以施主杂质的电子首先跃迁到NA个受主能级上,还有ND-NA个电子在施主能级上,杂质全部电离时,跃迁到导带中的导电电子的浓度为n= ND-NA。即则有效受主浓度为NAeff≈ ND-NA (2)NA>>ND
施主能级上的全部电子跃迁到受主能级上,受主能级上还有NA-ND个空穴,它们可接受价带上的NA-ND个电子,在价带中形成的空穴浓度p= NA-ND. 即有效
课后习题答案
受主浓度为NAeff≈ NA-ND (3)NA ND时,
不能向导带和价带提供电子和空穴, 称为杂质的高度补偿 6. 说明类氢模型的优点和不足。
7. 锑化铟的禁带宽度Eg=0.18eV,相对介电常数 r=17,电子的有效质量
m*n =0.015m0, m0为电子的惯性质量,求①施主杂质的电离能,②施主的弱束缚电子基态轨道半径。
解:根据类氢原子模型:
*4*
mnqmnE013.6 4
ED 0.0015 7.1 10eV 2222
m0 r2(4 0 r) 17
h2 0
r0 2 0.053nm
qm0
h2 0 rm0 r
r r0 60nm2**
qmnmn
8. 磷化镓的禁带宽度Eg=2.26eV,相对介电常数 r=11.1,空穴的有效质量m*p=0.86m0,m0为电子的惯性质量,求①受主杂质电离能;②受主束缚的空穴的基态轨道半径。
解:根据类氢原子模型:
*4*
E0mPqmP13.6
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