6.千分尺检定规程

千分尺检定规程

1 范围

本规程适用于分度值为0.01mm测量范围至500mm的外径千分尺；测量范围至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨率为0.001mm或0.0001mm,测量范围至99.999mm的数显外径千分尺（以下简称千分尺）的首次检定、后续检定和使用中检验。 2 引用文献

JJF1001—1998 通用计量术语及定义 JJF1059—1999 测量不确定度评定与表示 JJF1094—2002 测量仪器特性评定 GB/T1216—2004 外径千分尺 JB 6079—1992 电子数显外径千分尺 JB/T2989—1999 板厚千分尺

使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。 3 概述

千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆、测力装置和锁紧装置等组成。如图1，2，3，4，5，6，7，8所示。

图1 测砧为固定式的千分尺

1—尺架；2—测砧；3—测微螺杆；4—锁紧装置

5—固定套管；6—微分筒；7—测力装置；8—隔热装置

图2 测砧为可换式或可调式的千分尺

1— 测砧紧固螺钉；2—测砧；3—尺架；4—测微螺杆

5—隔热装置；6—测力装置；7—微分筒；8—固定套筒9—锁紧装置

图3 校对用量杆

图4 壁厚千分尺 图5壁厚千分尺

1— 尺架；2—测砧；3—测微螺杆；4—锁紧装置 5—固定套管；6—微分筒；7—测力装置；8—隔热板

图 6 板厚千分尺

1—尺架；2—测砧；3—测微螺杆；4—锁紧装置；

5—刻度盘；6—指针；7—固定套管；8—微分筒；9—测力装置

图7板厚千分尺

1—尺架；2—测砧；3—测微螺杆；4—锁紧装置；

5—固定套管；6—微分筒；7—测力装置

图8 数显外径千分尺

1— 尺架；2—测微螺杆；3—制动装置；4—固定装置；5—微分筒6—隔热装置；7—测砧；8—按钮；9—显示器；10—测力装置

千分尺是应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动或利用螺旋副原理使尺架上两测量面间分隔的距离通过电子技术和显示装置进行读数的一种量具；主要用来测量各种外尺寸。 4 计量性能要求

4.1 测微螺杆的轴向串动和径向摆动

测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。 4.2 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移

测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量应不超过表1规定。 表1测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量

mm

测量范围上限

25 50 75 100 125 150

偏移量

0.05 0.08 0.13 0.15 0.20 0.23

测量范围上限

175 200,225 250,275,300 325,350,375 400,450 475,500

偏移量

0.25 0.30 0.40 0.45 0.50 0.65

4.3 测力

千分尺的测力（系指工作面与球面接触时所作用的力）应为5～10 N。 4.4 标尺标记宽度及宽度差

微分筒标尺标记宽度为（0.08～0.20）mm, 固定套管上的标尺标记与微分筒上的标尺标记其宽度差均应不大于0.03mm。带刻线盘的标尺标记其宽度为0.20～0.30mm,宽度差应不大于0.05mm。 4.5 指针与刻度盘相对位置

板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30%～80%，指针末端上表面至刻线度盘表面的距离应不在于0.7mm。指针末端与刻度盘刻线的宽度一致，差值应不大于0.05mm。

4.6 微分筒锥面的端面棱边至固定套管标记面的距离

微分筒圆锥面棱边至固定套管标记表面的距离应不大于0.4mm。 4.7 微分筒锥面的端面与固定套管标尺标记的相对位置

当测量下限调整正确后，微分筒上的零标记与固定套管纵向标记对准时，微分筒的端面与固定套管标尺标记右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。 4.8 测量面的平面度

外径千分尺测量面的平面度应不大于0.6μm。壁厚千分尺测微螺杆测量面的平面度应不大于1.2μm,板厚千分尺测量面的平面度应不大于1.5μm。数显外径千分尺测量面平面度应不大于0.3μm。 4.9 数显外径千分尺的示值变动性

数显外径千分尺的示值变动性应不大于1μm。 4.10数显外径千分尺的示值稳定性

在任意位置时的稳定性应不大于1μm /h。 4.11两测量面的平行度

当外径千分尺锁紧装置紧固与松开时两测量面的平行度应不大于表2规定。

表2外径千分尺两测量面的平行度

测量范围/mm

0～25，25～50 50～75，75～100 100～125，125～150 150～175，175～200 200～225，225～250 250～275，275～300 300～325，325～350

最大允许误差/μm

±4 ±5 ±6 ±7 ±8 ±9 ±10

两测量面的平行度/μm

2 3 4 5 6 7 9

350～375，375～400 400～425，425～450 450～475，475～500

±11 ±12

11

±13

板厚千分尺测量面的平行度应不大于4μm。

数显外径千分尺两测量面平行度应不大于表3规定，紧固与松开时两测量面平行度变化应不大于0.001mm。

表3数显外径千分尺两测量面平行度

测量范围/mm

0～25

±2

25～50 50～75

±3

75～100

1.5 2.0

最大允许误差/μm 两测量面的平行度/μm

1.0

4.12示值误差

4.12.1 测微头的示值误差

测微头各点相对于零点的示值最大允许误差不超过±3μm。 4.12.2 千分尺的示值误差

外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表2中的规定。 板厚、壁厚千分尺示值的最大允许误差应不超过±8μm。 数显外径千分尺示值的最大允许误差不超过表3规定 4.13校对用的量杆 4.13.1千分尺校对用量杆

校对用量杆的尺寸偏差和两测量面的平行度应不大于表4规定：

表4校对用量杆的尺寸偏差和两测量面的平行度

校对量杆标称尺寸/mm

25,50

尺寸偏差/μm

±2

平行度/μm

1

75, 100 125, 150，

175 200 225

250 275，300

325，350，375，400 425，450，475，

±3 ±3 ±4 ±4 ±5 ±5 ±6 ±6 ±7 ±9 ±11

1.5 2 2 2.5 2.5 3.5 3.5 3.5

3.5

4 5

4.13.2 数显外径千分尺校对用量杆

数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和两测量面的平行度公差如表5所示:

表5数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和两测量面的平行度

标称尺寸/mm

25 50

尺寸偏差/μm

±1

平行度/μm

1

±1.5

75

1.5

5 通用技术要求 5.1 外观

5.1.1 千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷，标尺刻线应清晰、均匀 , 数显外径千分尺数字显示应清晰。

5.1.2 千分尺应附有调整零位的工具，测量上限大于或等于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。千分尺应具有测力装置、隔热装置和锁紧装置。校对量杆应用隔热装置。

5.1.3 千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。

5.1.4使用中和修理后的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。

5.2 各部分的相互作用

5.2.1 千分尺微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡住现象。

5.2.2可调或换测砧的调整或装卸应顺畅，作用要可靠，锁紧装置的作用应切实有效。

5.2.3带有表 …… 此处隐藏：6397字，全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……