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第7章 扫描探针显微技术(SPM

来源:网络收集 时间:2026-09-14
导读: 扫描探针显微技术 第7章 扫描探针显微技术 章 (SPM) ) 扫描探针显微技术 7.1 概述 显微技术是人们认识材料微观结构的重要 途径,其发展历程是从光学显微镜——电 途径,其发展历程是从光学显微镜 电 子显微镜——扫描探针技术。 扫描探针技术。 子显微镜 扫

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第7章 扫描探针显微技术 章 (SPM) )

扫描探针显微技术

7.1 概述 显微技术是人们认识材料微观结构的重要 途径,其发展历程是从光学显微镜——电 途径,其发展历程是从光学显微镜 电 子显微镜——扫描探针技术。 扫描探针技术。 子显微镜 扫描探针技术 一般的光学显微镜的分辨率 一般的光学显微镜的分辨率250nm, 扫描电子显微镜(横向分辨率 -5nm), 扫描电子显微镜(横向分辨率3- ), 不能用来直接观察分子和原子。 不能用来直接观察分子和原子。 扫描探针技术(STM横向 -0.2 nm,纵 扫描探针技术( 横向0.1- 横向 , 可以直接观察分子、 向0.01nm),可以直接观察分子、原子。 ) 可以直接观察分子 原子。

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扫描探针技术(SPM)实际上一类显微术 扫描探针技术( ) 的总称, 的总称,都是在扫描隧道显微镜的基础上 发展起来的, 发展起来的, 其中最常用的有扫描隧道显微镜(STM) 其中最常用的有扫描隧道显微镜( ) 和原子力显微镜( ),这两种方法互 和原子力显微镜(AFM),这两种方法互 ), 为补充。 为补充。

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STM要求被测样品必须是导体或半导体, 要求被测样品必须是导体或半导体, 要求被测样品必须是导体或半导体 虽然不导电的样品可以通过镀金膜或碳膜 在其表面形成一层导电膜, 在其表面形成一层导电膜,但膜的粒度和 均匀性直接影响对真实表面的分辨率造成 失真。 失真。 AFM可用于非导体,但要求样品的粘度不 可用于非导体, 可用于非导体 能太大,否则将直接影响分辨率。 能太大,否则将直接影响分辨率。

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SPM技术的特点: 技术的特点: 技术的特点 (1)具有原子级的分辨率(横向0.1-0.2nm, )具有原子级的分辨率(横向 - , 纵向0.01nm); 纵向 ); (2)可以观察单个原子层的局部表面结构; )可以观察单个原子层的局部表面结构; (3)可以得到表面电子结构的有关信息; )可以得到表面电子结构的有关信息; (4)可以实时、实空间地观察表面的三维图像, )可以实时、实空间地观察表面的三维图像, 可以观测到表面的原子的扩散、迁移等过程。 可以观测到表面的原子的扩散、迁移等过程。 (5)可以在不同条件下,如真空、大气、常温、 )可以在不同条件下,如真空、大气、常温、 低温、高温、溶液等条件下工作, 低温、高温、溶液等条件下工作,不需要特别备 制样品,对样品无损伤, 制样品,对样品无损伤,能在缓冲溶液中直接观 察生物样品的表面结构,能在高温环境下工作。 察生物样品的表面结构,能在高温环境下工作。 (6)除了用于成像、显

微观测,还可以对表面的 )除了用于成像、显微观测, 原子、吸附的原子或分子进行移动, 原子、吸附的原子或分子进行移动,从而进行表 面纳米级加工

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7.2 扫描隧道显微镜 7.2.1隧道效应 金属中的自由电子具有波动性,当电子波(ψ) 金属中的自由电子具有波动性,当电子波( ) 向表面传播遇到边界时,一部分被反射( ), 向表面传播遇到边界时,一部分被反射(ψR), 而另一部分则可透过边界( ), ),从而在其表面 而另一部分则可透过边界(ψT),从而在其表面 形成电子云,电子云的密度随距表面的距离成指 形成电子云, 数衰减。当两金属靠得很近时, 数衰减。当两金属靠得很近时,表面的电子云可 以相互渗透,即金属1的透射波 的透射波ψT1与金属 的透 与金属2的透 以相互渗透,即金属 的透射波 与金属 射波ψT2相互重叠,在两金属间形成电流,这一 相互重叠, 射波 相互重叠 在两金属间形成电流, 现象被称为隧道效应, 现象被称为隧道效应,由此产生的电流为隧道电 隧道效应是粒子波动性体现, 流。隧道效应是粒子波动性体现,是一种典型的 量子效应。此时, 量子效应。此时,如果在两金属或半导体上施加 电压,则电子定向流动,形成隧道电流。 电压,则电子定向流动,形成隧道电流。

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STM的工作原理就是利用了电子隧道效应,用一 的工作原理就是利用了电子隧道效应, 的工作原理就是利用了电子隧道效应 个曲率半径R为原子尺寸的针尖在样品表面扫描 为原子尺寸的针尖在样品表面扫描, 个曲率半径 为原子尺寸的针尖在样品表面扫描, 当针尖与样品表面非常接近时, 当针尖与样品表面非常接近时,由于隧道效应可 在针尖与样品表面之间形成隧道电流: 在针尖与样品表面之间形成隧道电流 I∝ρs(0,EF)exp(-2kZ) ∝ 式中,ρs(0,EF)为样品表面费米能级 处的局域 式中, 为样品表面费米能级EF处的局域 为样品表面费米能级 态密度, 为针尖与样品的距离 为针尖与样品的距离, 为衰减系数 为衰减系数, 态密度,Z为针尖与样品的距离,k为衰减系数, K取决于针尖和样品的平均功函数以及针尖与样 取决于针尖和样品的平均功函数以及针尖与样 品间的电压。 增加0.1nm时,I减小 倍,可 减小10倍 品间的电压。当Z增加 增加 时 减小 见隧道电流I对样品表面的起伏是非常敏感的 对样品表面的起伏是非常敏感的( 见隧道电流 对样品表面的起伏是非常敏感的(纵 向分辨率可达0.01nm),当R和Z都小到原子尺 向分辨率可达 ),当 和 都小到原子尺 ), 度时, 度时,就可以得到样品表面原子排列和原子形态 的清晰的图

象。 的清晰的图象。

7.2.2 STM的工作原理

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STM有两种工作模式:恒流模式和恒压模式。 有两种工作模式: 有两种工作模式 恒流模式和恒压模式。 恒流:保持隧道电流I不变,使针尖上下移动而改 不变, 恒流:保持隧道电流 不变 变高度Z。 变高度 。 恒高:保持高度 ,使隧道电流 改变。 恒高:保持高度Z,使隧道电流I改变 改变。 针尖沿着 方向扫描,就可以得到表面三维的数 针尖沿着x/y方向扫描 方向扫描, 从而得到表面原子的分布, 据,从而得到表面原子的分布,通过计算机的数 据采集系统,转化成图象直接显示出来, 据采集系统,转化成图象直接显示出来,也可以 将数据转化成三维图象。二维图象,用景深表示z 将数据转化成三维图象。二维图象,用景深表示 方向的信息,三维图象更直接地表示。 方向的信息,三维图象更直接地表示。

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7.2.3 STM 仪器

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1 针尖 针尖的曲率曲径约为 针尖的曲率曲径约为0.1µm,可以得到原子 , 级分辨率的图像, 级分辨率的图像,在进入隧道电流状态后 针尖尖端处往往能够形成单原子尖, 针尖尖端处往往能够形成单原子尖,针尖 的制备是STM中的关键问题,常用机械加 中的关键问题, 的制备是 中的关键问题 工铂铱合金针尖, 工铂铱合金针尖,或用化学腐蚀的方法制 取钨的针尖。化学腐蚀,加直流电压, 取钨的针尖。化学腐蚀,加直流电压,在 2mol/l NaOH 溶液中腐蚀。 溶液中腐蚀。

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2 三维扫描和控制器件 STM横向分辨率为0.1~0.2nm,xy方向的 扫描范围一般在几-几百nm,与其深度分 辨率0.01nm相适应,通常用压电陶瓷管的 三维控制器件。同时,为了避免外界震动 对扫描的影响,应加减震的阻尼系统。

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3 数据采集处理(微机) 数据采集处理(微机) STM的主要技术指标是分辨率,常用高定 的主要技术指标是分辨率, 的主要技术指标 …… 此处隐藏:1919字,全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……

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