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智能射频识别卡片检验规范标准(3)

来源:网络收集 时间:2026-09-28
导读: GB/T — 5.6.2 测试报告 测试报告应说明在预处理之后以及在暴露在测试环境下之后这些卡是否易于分开,说明是否发现 了任何可视损伤痕迹。如果发现了任何可视损伤痕迹,测试报告应描述其性质及严重程度。 5.7 弯曲韧

GB/T ××××—××××

5.6.2 测试报告

测试报告应说明在预处理之后以及在暴露在测试环境下之后这些卡是否易于分开,说明是否发现

了任何可视损伤痕迹。如果发现了任何可视损伤痕迹,测试报告应描述其性质及严重程度。

5.7 弯曲韧性

4本测试的目的是确定卡测试样品的弯曲韧性是否在基本标准(见ISO/IEC 7810:1995)所设置的

极限值范围内。

5.7.1 规程

在测试前根据4.2预处理样品卡,并在4.1定义的测试环境下进行测试。

将样品卡安置在以下所述的各个仪器上,沿卡的整个左边夹住它,正面朝上。

测量h1(见图7)

将等价于0.7N的负载施加在卡的整个右边的3mm范围内1min。

(至少)

未按实际比例

单位:mm

图7 加载前,夹器中的卡

测量h2(见图8)

未按实际比例

图8 加载期间,夹具中的卡 移去负载。 1min后,测量h3(见图9)

4 本方法适用于ID-1,ID-2和ID-3

9

智能卡检验国家标准

GB/T ××××—××××

未按实际比例

图9 未加载后,夹具中的卡

5.7.2 测试报告

测试报告应给出测得的h1、h2和h3的值,以及计算出的负载下的偏移值(h1-h2)和与移去负载后

保持原始状态相关的变形值(h1-h3)。

5.8 动态弯曲应力(弯曲特性)

本测试的目的是确定弯曲应力对测试样品卡的任何有害机械或功能上的影响(见ISO/IEC 10536-1:

1992和ISO/IEC 7816-1:1998)。

5.8.1 仪器

将动态弯曲应力施加到被测卡上所使用的仪器应如图10所示。

祥述A

至 45° α=30°至卡的长边或短边

αα

至固定部分 活动部分 至 未按实际比例

单位:mm 注:hv和hw都在卡的背面测量

图10 单面弯曲的测试设备

注 1: HV和HW从卡的下侧测量值。

注 2: 30°角α装置适用于卡耐用性测试中,塑料卡材料的动态弯曲测试

仪器的移动部分通过一个曲柄装置来驱动,使弯曲应力以频率为0.5Hz的正弦曲线方式变化。通过调整移动部

分的行程可将最大偏差值hW设置在+0mm、-1.00mm的容差范围内。最小偏差值hV通过起始位置来设置。

5.8.2 规程

在测试前根据4.2预处理样品卡,并在4.1定义的测试环境下进行测试。

将样品卡放在图10所示的测试机的夹紧装置之间,样品卡定位,使弯曲沿着B轴弄弯卡的宽边(见

图11)。如果卡有触点,首先应将触点朝上来放置卡。

智能卡检验国家标准

GB/T ××××—××××

设置仪器的行程获得最小偏差值为2.00mm±0.50mm。

进行基本标准所规定的弯曲总次数的四分之一次弯曲,如果未规定这样的次数,则进行250次弯曲。 重新放置该卡,使该卡的反面朝上,但弯曲仍然通过沿B轴弄弯卡的宽边来进行。

使用与前面相同的弯曲次数。

重新放置卡,并复位测试仪,使卡的原始面朝上,但弯曲仍然沿A轴弄弯卡的高边而出现(见图

11)。如果卡有触点,则应在触点朝上的这个点处来放置该卡。

设置仪器的行程使获得的最小偏差值hv为1.00mm±0.50mm。

使用与前面相同的弯曲次数。

重新放置该卡,使卡的反面朝上,但弯曲仍然沿A轴弄弯卡的宽边来进行。

进行与前面相同次数的弯曲。

在测试开始和结束时,检查卡是否有可测试的功能(见第3章)。在测试过程期间,也可以在

5.8.3 测试报告应说明在测试结束时卡是否有可测试的功能(见第3章)

5.9 动态扭曲应力(扭曲特性)

本测试的目的是确定由于对卡测试样品重复施加扭曲应力而引起的任何有害机械或电气的影响(见

ISO/IEC10536-1:1992和ISO/IEC 7816-1:1998)。

5.9.1 仪器

将动态扭曲应力施加到被测卡上所使用的仪器应如图12所示。

仪器以高达预先确定角度极限值的正弦曲线方式变化所施加的扭曲应力,如图13所示。

11

智能卡检验国家标准

GB/T ××××—××××

C的放大图样 导轨指示卡的固定点

卡

转动角度

未按实际比例 单位:mm

5.9.2 规程 图12 扭曲试验机

在测试前根据4.2

预处理样品卡,并在4.1定义的测试环境下进行测试。 压力周期

转动角度

图13 压力周期函数

将被测卡放置在如图12所示的扭曲测试仪上,使得卡松动地保持在以距离d=86mm隔开的两个导轨

中的凹槽内,使卡的短边可以在相对于空档位置的±α角度进行旋转。

将测试频率置为0.5Hz,将旋转角置为15°±1°并执行基本标准所规定的扭曲循环次数,如果未规定这样的次数,则执行1000次扭曲循环。

在测试开始和结束时,检查卡是否有可测试的功能(见第3章)。在基本标准中所规定的扭曲循环

的四分之一之后的测试期间也可以检查该卡。

5.9.3 测试报告

测试报告应说明在测试结束时卡是否有可测试的功能。

5.10 可燃性

本测试的目的是确定卡测试样品会燃烧的程度(见ISO/IEC7813:1995)。

5.10.1 规程

在测试前根据4.2预处理样品卡,并在4.1定义的测试环境下进行测试。

固定卡的某一端在支撑物中,使其纵轴倾斜45°。

将带有喷嘴直径为8~10mm的本生灯放置在卡的另一端,并调节该灯使其产生与垂直方向成30°

角、高5mm的稳定蓝色火焰。

图14示出了卡与燃烧器之间的物理关系。

智能卡检验国家标准

GB/T ××××—××××

未按实际比例

图14 卡和燃烧器的安排

卡须经受燃烧器火焰30s。

警告:应在通风良好的区域中进行该测试。

从燃烧器火焰中取出后,测量卡火焰熄灭所用的时间。测量卡被烧毁的长度。

5.10.2 测试报告

测试报告应给出从燃烧器火焰中取出后测得的卡火焰熄灭所用的时间值。测试报告也应给出卡被烧毁的长度。

5.11 阻光度

4本测试的目的是确定卡测试样品中规定区域的阻光度(见ISO/IEC 7810:1995)。

注: 对于通过光源和传感器间传导光的衰减来检测到卡存在的应用来说,才要求这种测试。

5.11.1 仪器

一种分光光度计,它带有集成球形光散射箱使用8nm的间隔能测量光谱范围为400nm~1000nm的阻光度。

5.11.2 规程

在测试前根据4.2预处理样品卡,并在4.1定义的测试环境下进行测试。

遵循制造商的说明书来校准仪器。

在图15所示卡的阴影区域内以及在基本标准所规定的任何其他区域内,找到并记录波长400nm~1000nm的范围内的最小阻光度,并以波长间隔为20 nm进行测量。

注: 当位置早已确定时,会减少找到最小阻光度所要求的测量次数。

4 ISO/IEC7810:1995要求卡具有大于1.5的光透射密度。本次修订的测试方法还包括测量中的红外线光谱,给出了稍微不同的结果。ISO/IEC 7810在下 …… 此处隐藏:1144字,全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……

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