日本工业标准铁素体钢焊缝超声波探伤方法JIS Z3060-1994(2)

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20 0 2年第 3期

无损探伤

(月刊 )双

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铁素体钢焊缝超声波探伤方法(接 20上 0 2年第 2期 )

J 36 4 I zoo 9 s一19

采用 V扫查方式扫查，得最高回波后。节仪器获调

6 3串列式探伤 .6 3 1检测范围的调节 ..

增益，波高与 M线重合，后再增益 1d此即使然 4 B.为参考灵敏度，当检测范围为探测面至 t4时，/探伤灵敏度比参考灵敏度低 4 B,检测范围大于 t4 d当/

使用 A1或 A3系列标准试块，节检测范围调时，检测范围大致等于被检件单探头法的 1距使跨的声程，一个斜探头在试件上采用 V扫查方法在将工件上连续地移动以获得最高波，获得的最高波将的点用记号标出。

而小于或等于 t 2时，伤灵敏度比参考灵敏度低/探2 B, d当检测范围为 t 2至工件底面时 ./探伤灵敏度

与参考灵敏度相等。6 3 5探伤仪的调节和周期检定 ..

6 5 2波高区分线的制作 ..制作如图 9所示的波高区分线标在仪器的刻度板上，度板上示屏满刻度的 4的线叫做 M线，刻 0/ 9 5 比 M线低 6 B的叫做 L线， M线高 6B叫做 H d比 d线。

在检测工作开始前，需对探头入射点、 TB必 S 折射角、伤折射角、探检测范围和探伤灵敏度进行调节。

而且，在工作期间， 4每 h应检查一次，以确认调节时的条件保持不变。 64 D . AC电路的调节6 4 1时基线范围的预调节 ..

6 3 3波高区域的戈分 ..根据 6 1 5划分区域，图 9所示。 ..节如

在D AC电路关闭的情况下，用探伤时使用采的探头在 A1或 A3系列试块上调节时基线的检测范围。

6 4 2 DA . . C调节点的选择 D AC调节在 D AC起点和 DAC调节点上进行。 ( ) DAC关闭状态下， AC的始点调节在已 1在 D

绘制的距离波幅曲线上进行，取最大回波的声程选位置 (点 )该声程靠右边的位置。或或 ( ) AC调整点可以 D 2D AC起始点向右的跨距点中选取，对使用的对比试块或标准试块的标准在9渡高区分线和波高区域划分实例

孔探伤以后，虑时基线范围 .择合适的跨距点。考选643 D . . AC起始点调节( ) 6 4 2 2选择的跨距点对准 A2或 R一 1用 .. ( ) B

6 3 4探伤灵敏度调节 ..( )板厚 2 mm≤t 0 1当 0￣4 mm时，探头在试件完

好部位采用 V扫查方式扫查，得最高回波后，获调

4试块 (同样目的试块 )标准孔，仪器增益调或的用

节仪器增益，波高与 M线重合，后再增益使然1d以此作探伤灵敏度。 6 B,

节跨距点的波高，使其与 DAC曲线重合。将探头停在该位置，通 DA此时， D接 C,将 AC停在该起始点

(板J 4 mm≤t 5 2￣ 0￣7 mm时，探头在试件完好部位鬻用扫查方式扫查试件，得最高回波获后，节技器增益，调使波高与 M线重合，然后再增益1 d地作为探伤灵敏度。 0 B,

的左边范围的波高用增益旋钮调节到与 DAC切断状态时相一致。 ( ) AC起始点的标记应选择和 6 4 2 1的 2D .. ()声程相一致。

(板 J t 7 rm时，头在试件完好部位 3摹≥ 5 a探

6 44 D . . AC斜率的调节

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在D AC起始点调节的状态下，调整 DA C起始点回波高度与相当于距离波幅曲线的 DAC起始点同声程的回波高度相等，此调节 D据 AC的斜率。按顺序进行前后扫查，以得到最大回波，再读取此时旋钮的显示，为斜率并记录。作 6 4 5探头入射点的测定、测范围的调整和 . .检 S B折射角的测定 T在 6 4 4状态下，用 6 4 1用的标准试块 ..使 ..所或 A3系列试块测定探头入射点，节好时基线范调围后再测定 S TB折射角。

() 3波高区域区域。

将探头置于获得最高回波的位

置和方向，时最高回波波峰所在的区域即为波高此

( )陷指示长度 4缺

在出现最高回波的水平距

离上，行左右扫查，超过 L线的探头移动距离进把作为缺陷指示长度，同时，要进行前后扫查，不还但作摆动扫查。

另外，当与探头接触的板厚大于 7rm,使用 5 a且公称频率 2 M

Hz晶片尺寸 2×2 rm的探头时，和 O 0 a

6 46使用 D .. AC电路的波高区分线的制作 ( )高区分线由实际探伤时使用的探头制作， 1波绘在刻度板上。 一

则将超过最高回波的一半 ( d )一6 B的探头移动距离作为缺陷指示长度，确至 1 m。精 a r ( )陷位置表示方式如图 1 5缺 O所示，陷的缺横断面位置[深度 (, )垂直于熔合线的位置 ( ) 五]由探头在最高回波处( Xp)的值表示，面位置由缺平陷指示长度 () z的两端 ( )和 ( )示。 Xs Xe表

( )用 A2系列标准试块绘制波高区分线时 . 2使 采用 4×4标准孔制作波高区分线，用 RB 4使一 参考试块时，由 R一4的标准孔制作。则 B ( )头放在跨距点处获得最高回波 ( 6 4 2 3探见 . . ( ),器增益调节到使波高不超过示屏满刻度的 1 )仪 1 0,且将此高度绘制在刻度板上。 0并 ( )步骤 ( ) 4在 3的条件下，将每一跨距点的反射波绘在刻度板上。

() D 5将 AC起始点的反射波高调节至 DAC调节点的波高相同。

( )各点连结起来的曲线即是波高区分线。 6将 () 7当使用 s B T—A2试块，. 0 5跨距范围内的波高与 0 5跨距点的波高相同。是， .但当使用品片尺寸 2×2 rm、称折射角为 4。斜探头时， 1 O 0 a公 5的则 跨距范围内的波高与 1跨距点的波高相同。 当使用 R一 4试块时， B能够绘制的最小跨距范围内的波高与最小跨距点的波高相同。 ( )少绘制 3与此曲线相差 6 B的曲线作 8至条 d为波高区分线。图 l 0缺陷位置表不方法

7 2垂直探伤 .

( )陷评定的对象 1缺

根据 6 2 5节的要求调 ..

节好灵敏度后，当使用 M线检测时，定超过 M线评的缺陷回波。当使用 L线检测时，定超过 L线的评缺陷回波。 () 2探伤灵敏度为防止缺陷漏检，伤灵敏度探可以调至高于规定的灵敏度。但是，测量回波高度在和缺陷指示长度时 .则应在上述探伤灵敏度下进行。 ( )高区域 3波区域。

7检验7 1斜率探伤 . ( )角评定的对象按各附录的要求调节探 1缺

伤灵敏度以后，使用 M线检测时，定最高反射当评波超过 M线的缺陷回波，当使用 L线检测时，定评超过 L线的缺陷回波。 ( )伤灵敏度探伤灵敏度应按附录的要求 2探进行调节，防止缺陷漏检；是，以但反射波高和缺陷指示长度应在相应附录所要求的探伤灵敏度下测

将探头置于获得最高回波的位

置和方向，时，高回波波峰所在的区域即为波高此最

( )陷指示长度 4缺

将最高回波点作为扫查中

心，其周围移动探头，过 L线的探头移动距离在超

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(长径 )为缺陷指示长度，作测量精度为 1 m。 a r此外，当探头接触的板厚大于 7 mm,使用公称频率为 5且 2 MHz的探头时，则把超过最高回波一半 ( d的一6 B)探头移动距离作为缺陷指示长度。

角探伤方法进行检验。

() 3需要评定的缺陷按 6 3 4节的要求调节 ..好探伤灵敏度，当使用 M检测电平时 .高回波超最

过 M线的缺陷需要评定：当使用 L检测电平时 .最高回波超出 L线的缺陷需要评定。 () 4探伤灵敏度探伤灵敏度可以调至高于上述所规定的探伤灵敏度，防缺陷漏检；当测量回以但 波高度和指示长度时，须在规定的探伤灵敏度条必件下进行。 () 5回波高度区域将探头置于获得最高回波的位置和方向，高回波波峰值所在的区域即为回最波高度区域。