MP1570A SDH测试仪使用指导书-B(15)

MP1570A SDH测试仪使用指导书 文档密级：内部公开

Tx&Rx STM4-AUG#[1 ]-AU4-VC4-139M（Async.） 此时仪表应无告警和误码；

在Test Menu窗口，选择[manual]；

然后光标移至jitter，将jitter TX设置为OFF(F.offset)方式，改变Freq.offset值，观测PDH，SDH各告警指示灯，当仪表处于告警/不告警边界时，这时频偏值(Freq.offset)指示为最大频偏容限。

2.5 SDH设备STM-N输入口的抖动容限 2.5.1

概念

抖动是指数字脉冲信号的特定时刻(如最佳抽样时刻、判决时刻)相对于其理想时间位置的短时间偏离。实际上也就是数字脉冲信号的实际有效时间相对于其理想标准时间位置的偏差。

上述定义中的的“特定时刻”是指：特定的有效瞬时，如对数字信号进行识别判决的时刻。

抖动是短期的，非累积性的偏离，偏离随时间变化较快（变化频率大于10Hz）的变化，有正偏，也有负偏，平均值为零，不是一直负偏或一直正偏。 抖动容限测试是为了度量系统和设备承受输入抖动的能力。输入口接收到的信号多少总有一些抖动和漂移，当抖动和漂移不超过网络限值时，输入口应能正常工作，即输入口所在设备或系统性能不下降。 输入抖动容限的测试，要求设备输入口能承受输入信号的各个频率点加的抖动幅度均能满足指标。 该指标测试中需要注意的要点有：

对于此项功能，一般仪表具有自动测试的功能，仪表自动选择测试的频率点，增加抖动幅度进行自动测试，且能打印测试结果的功能。在工程中，条件允许时建议使用自动测试功能。

人工（手动）测试时，信号发送器的抖动频率和幅度需要人工设置。选择测试的频率点，增加抖动幅度，直到仪表出现误码。人工测试时，通常选择拐点的频点进行测试。

测试时，必须清楚被测信号在SDH设备中的流向。注意SDH设备本身的配置。

注意：

在这里顺便讲一下漂移的定义和它与抖动的区别。

2005-03-25

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漂移是指数字信号的特定时刻（例如最佳抽样时刻）相对其理想时间位置的长时间的偏移。所谓长时间，是指变化频率低于10Hz的相位变化。 抖动和漂移的产生机理不同。抖动的产生主要原因是内部噪声；漂移产生的原因是传输媒质和设备中时延的变化。漂移还受外部条件的影响，如温度。由于二者产生的机理不同，产生抖动的因素不一定会产生漂移，反之也是。漂移的测试对时钟、仪表等的要求比较高，比较复杂。且国标《同步数字体系（SDH）光缆线路系统测试方法》中未有漂移的测试方法介绍。工程中一般也不进行测试。故本手册对漂移测试不作介绍。

2.5.2 测试方法

测试连接框图如图1-4所示：SDH分析仪与SDH设备通过一对光纤相连，在设备上配置一个支路上下业务，SDH分析仪上设定此支路业务的映射关系（作用等同于在设备上配置一个支路上下业务），确保在设备和分析仪上业务形成通路。不难发现，这种连接方式与测试光口的输入频偏容限的测试方法的连接是一样的。

SDH分析仪SDH发 光衰减器设备RxSDH收设备Tx

图2-4 SDH设备STM-N输入口抖动容限测试配置

光输入口的抖动容限测试步骤如下： 1） 按图 1-4连接电路；

2）在SDH设备上配置一个支路上下业务，记下此业务的支路与光路的连接关系；

3）按被测接口速率等级，设定SDH分析仪的光口发送和接收信号速率，注意此时光发信号和光收信号是一对信号，即分别是STM-N的发信号和收信号； 4）在SDH分析仪上，根据SDH设备的支路连接关系，设定SDH分析仪的支路业务映射关系（作用等同于在设备上配置一个支路上下业务），现在该支路业务分别在SDH设备和分析仪内部都配置起来了；

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5）在被测的SDH设备和分析仪上，将此支路业务在相应的光接口或电接口上用光纤或自环线环回，确保业务在设备和SDH分析仪上形成通路； 6）设置SDH分析仪光发光收，选择输入抖动容限测试

7）启动SDH分析仪的抖动容限自动测试，记录各频点的抖动容限值，应符合测试标准。 建议启用SDH分析仪的打印功能，测试结果在模板曲线的上方作为合格。

2.5.3 测试示例

1）按照图1-4接好MP1570A分析仪和OptiX 10G设备，即MP1570A的光发送口和接收口分别与SLQ4板的光接收口和发送口相连。

2）在OptiX 10G上配置一个155M电上下业务，所选择的155M通路配置到所插槽位SLQ4的第1个VC4，注意在EU08上用自环线把该155M电口自环起来。 3）仪表设置：

按“Setup”键，在屏幕的左上方出现Setup；

选择[Mapping]、选择[Tx&Rx]； Measuring mode：[Out-of-service]； Bit Rate：[622M]

Mapping：[STM4-AUG-AU4-VC4-139M（Async） ] MUX/DEMUX：[Off] Frame：[Off]

Clock：选择[Internal]； Performance：选择[G.826]； Graph resolution：选择[15min]。

按“Test Menu”，（如果Test Menu前的指示灯已亮，则按“Setup”），屏幕的左上方出现“Mapping”

光标移到Mapping窗口，设置详细的映射信息（被选择环回支路信号的详细的映射路径）

Tx&Rx STM4-AUG#[1 ]-AU4-VC4-139M（Async.） 此时仪表应无告警和误码；

光标移到Test Menu窗口，选择[Jitter tolerance]； 按“Result”键，如果Result前的指示灯已亮，则省去；

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光标移到Result窗口，选择[Jitter tolerance]； 按“Start”开始测试。 测试结果：

结果在Result窗口显示。测试值大于指标，测试值连成的曲线在指标模板以上。打开打印机的电源，按“Print now”就可以打印出测试结果。 注意：

对于复用段共享保护环，停止倒换协议； 对于通道保护环，将通道设置为无保护。

2.6 SDH设备STM-N光口输出抖动 2.6.1 概念

输出抖动是抖动出现在网元输出端口的抖动量。测量的目的是为了度量待测实体（SDH网络单元或网络接口等）产生的输出抖动大小，确保端口的输出抖动量不超过在网元输入端口规定的限值。

SDH输出口输出抖动指标分为全频段（B1指标）和高频段（B2指标）两个部分来规范。 输出抖动在各个频段的抖动幅度不同，抖动在低频部分的能量较大。抖动的测试选用带通或者高通滤波器来实现。 如果关闭测量用的滤波器，此时测试到的就是整个频率段的抖动值，即显示整个频段内抖动最大的那个频率的抖动值。

输出抖动测试要点：设备的输入信号不应加有抖动；测量时需要选择带通或者高通滤波器。

2.6.2 测试方法

STM-N光口输出抖动测试配置框图如图1-5所示：

SDH分析仪图案发生器抖动检测器光衰减器光衰减器发送侧

图2-5 SDH设备STM-N口抖动产生测试配置

测试步骤如下：

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1）按上图连接电路，设置仪表；