MP1570A SDH测试仪使用指导书-B(12)

MP1570A SDH测试仪使用指导书 文档密级：内部公开

测试得到的结果可以保存在仪表的Memory内，可查询分析。 要求：

在设置收发信号时， Performance：[G.826] Graph resolution：[15min] 保存：

将Analyze窗口最大化，（关闭Test Menu、Result窗口，键前的指示灯灭）；光标移到[Store]窗口，按“Set”键，进入Store窗口，输入保存的文件名（选END结束文件名的输入），数据将被保存。 保存数据的查询：

按“Setup”键，在屏幕的左上方出现Setup； 选择[Memory]；

光标移到Analyze data窗口，在[Recall]上按“Set”键，光标将移到文件目录窗口，在目标文件上按“Set”键。再按“Setup”，显示被查询的Analyze数据。 数据分析：

可以结合Result的数据进行测试结果的数据分析。如：有误码，先在Result窗口查看误码的类型，再到Analyze窗口，选择相应的误码事件。告警事件的分析也相同。

1.5.3 Result

RESULT窗口包含的各主菜单如下： Trouble search

? Error/Alarm

Justification * Zoom Performance B2 error Simultaneous Delay APS test Recall Trouble search

2005-03-25

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在Trouble search测试开始后，打开此窗口显示查询到的故障；如果未查询到故障，显示No Trouble；反之，详细显示故障，并显示Trouble、总查询通路、故障通路

通路：指收信包含的有效MUX/DEMUX的最低等级信号数目 2、Error/Alarm Start：测试开始的时间 Elapsed：已测试时间

已测试时间占测试周期（Test Menu--Manual--Mode下设置），有一图形条显示其进程；

Count：以误码计数显示结果 Rate：以误码率显示结果 Display data

[Current]：显示测试开始到现在的测试结果 [Last]：显示测试完成后的测试结果 Jitter/Wander 其显示菜单如下： Result Jitter/Wander Unit

[ Peak

]

Start 14:32:47 04/Jul/95

Display data [ Last ]

Tx Jitter Rx Jitter Amplitude

1.552UIpp

Peak-Peak 1.553UIpp +Peak 0.778UIpp -Peak 0.775UIpp 解释如下： Unit

[Peak]：显示测试的抖动峰—--峰值(Peak —Peak)；测试时选择峰—峰值。[Hit]：显示测试的抖动冲击事件；

[RMS]：显示测试的抖动RMS（均方根值）； [Wander]：漂移测试时，显示测试的漂移值。 Tx Jitter

显示仪表的发送抖动峰—--峰值。人工（Manual）测试抖动容限时，仪表的发送抖动值在此读出。 Rx Jitter/Rx Wander

2005-03-25

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显示仪表测试的接收抖动/漂移值。 Justification

在此功能窗口中可进行指针调整事件的测试。 Zoom

将一条告警事件和一条误码性能放大后屏幕显示。

Alarm item： 选择一条告警事件（P-LOS：仪表掉电时间，测试期间如果仪表掉电，仪表将会打印出掉电起、止时间，一般不影响测试结果） Error item： 选择一条误码性能 Performance

显示在Setup主菜单Mapping窗口Performance项选择的类型的性能结果 选项[G.821]、[G.826]、[M.211]；与Setup设置相一致，一般设置[G.826]。 B2 error

在此功能窗口中可以显示各个通道B2的测试结果。

注：B2测试结果只能以计数值来显示，而不能显示B2误码率。 Simultaneous

显示TUG3或VC-3中VC2（7ch），VC12（21ch），VC11（28ch）的告警和误码的同时测试结果。 Delay

延时的测试结果。如果在设置的时间周期内测试未成功，将会显示Timeout； APS test

通过在某些通道里下插告警或误码引起APS倒换，测试APS倒换时间和恢复时间。 Recall

显示自动测试结果。

1.5.4 Analyze窗口

Analyze窗口包含的各主菜单如下： Trouble search Error/Alarm OH monitor Opt.power meter Pointer monitor Sequence test

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APS capture OH capture Frame capture Recall

下面分别介绍。 Error/Alram

测试期间得到的结果以图形显示，测试周期期间汇总的测量误码、告警的显示。用于误码/告警事件的图形显示；可以判断测试期间，各个时间段的误码、告警产生情况；

其横轴代表时间，时间的分辨率为1Min，15Min，60Min；在Setup的Mapping菜单下设置；纵轴代表误码率、告警事件；

移动光标，则可看到相应时间（段）内误码率、告警的记数情况； OH monitor

在此功能窗口中可以监测接收信号中的SOH 、POH开销字节。 Opt.power meter

在此功能菜单下可测试输入光功率。

Mapping SDH/PDH Tx&Rx Out-of-service Time 20:50:31 04/Feb/2000 Tx&Rx

STM4-AUG#01-AUG#1-VC3-TUG2#1-TU12#1-VC11-1.5M(Async.) Analyze [ Opt.power meter ] Wave length [1.55μm] Pause Optical power -9.5dBm Relative +0.0dB Refence -9.5dbm

Wave length：在测试之前，应该设定输入光信号的波长。 Optical power：显示输入光信号的的光功率。 4、Pointer monitor

在此功能窗口中可监测收到的信号中的指针值。 Sequence test

在此功能窗口中可以进行自动测试结果的分析。 APS capture

2005-03-25

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通过特定的触发设置，可以捕获和显示特定的K1、K2序列；也可以测试倒换时间。 OH capture

MP1570A可以截取和保存1023 个SDH帧的开销字节并显示出来。在此功能窗口中需设置要捕获、显示的开销字节和触发条件。捕获的开销字节可以存储下来，也可以打印出来。 Frame capture

在此功能窗口中可设置和显示捕获的SDH帧头信号。 Recall

在此功能窗口中可以显示存储在内存或软盘中的图形、数据等。

2 光接口特性测试

本节主要讲述了光接口测试的常用测试项目、测试原理和测试步骤，具体测试项目包括平均发送光功率、接收机灵敏度、接收机过载光功率、光输入口允许频偏、光输入口抖动容限、光接口输出抖动、消光比等。

本节先讲述指标的概念和测试方法，然后讲述如何利用实际仪表进行该指标的测试示例，其中示例中用到的SDH分析仪是采用MP1570A仪表做测试示例，由于MP1570A仪表光口能测试STM-1、STM-4、STM-16、STM-64速率，在测试示例中，主要以SL16光板为例，SL16是STM-16速率的光接口板；但由于目前MP1570A不提供10G的光口抖动、漂移等的测试，光口抖动、漂移指标的测试均以STM-4接口板SLQ4为例说明。

2.1 平均发送光功率 2.1.1 概念

平均发送光功率是发送机耦合到光纤的伪随机数据序列的平均功率在S参考点上（光板OUT口）测试值。

要注意的是，发送 …… 此处隐藏：1874字，全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……