X射线分析(6)——卡片检索
第一部分 X射线衍射分析
第五章. X射线结果分析
第五章. X射线结果分析1 衍射结果 2 精确测定晶胞参数
3 物相鉴定
第五章. X射线结果分析
1 衍射结果(1)
对于照相方法:一张德拜照片 测量计算出的面网间距、强度 衍射方法:一张衍射图谱 及与图谱对应的衍射数据表
第五章. X射线结果分析
1 衍射结果(2)理论上,每个面网的衍射都应该在一个严格的2θ 角度,但实际上,衍射峰的形状都是有一定宽度的。
第五章. X射线结果分析
1 衍射结果(3)为什么衍射峰有一定宽度(为什么在偏离布拉格角的 一个小范围内也有衍射强度)?在研究衍射方向时,是把晶体看作理想完整的, 但实际晶体并非如此。既使一个小的单晶体也会有亚 结构存在,他们是由许多位相差很小的亚晶块组成。 另外,实际X射线也并非严格单色(具有一个狭长的 波长范围),也不严格平行(或多或少有一定发散 度),使得晶体中稍有位相差的各个亚晶块有机会满 足衍射条件,在2θ±Δ2θ范围内发生衍射,从而使 衍射强度并不严格位于布拉格角2θ处,而是有一定 的角宽度。
第五章. X射线结果分析
2 精确测定晶胞参数(1)
精确测定晶胞参数可以了解物质结构的很多细 微的变化信息,它可反映晶体内部成分、受力状态 等的变化,可用于鉴别固溶体类型、测量固溶度、 测定物质的真实密度等等。 晶胞参数来源于多个d值。 面网间距测定时的误差: 如不考虑各种客观因素的误差(机械误差、光源 误差、样品制样误差等),只从几何方面分析。 根据布拉格方程 = 2d sin
第五章. X射线结果分析
2 精确测定晶胞参数(2)
当其他误差都相似的情况下,则在高角度,d值的 误差明显小于低角度的误差。(即面网间距越小, 误差也越小)
第五章. X射线结果分析
2 精确测定晶胞参数(3)
数学推导: = 2d sin (1) 求微分 = 2 d sin + 2d cos (2) (2)/(1) / = d/d + ctg 不考虑波长误差,则 d/d = -ctg 当 90,ctg 0, 若 恒定,则 越大,计算得出的d误差越小
第五章. X射线结果分析
2 精确测定晶胞参数(4)
因此在利用d计算晶胞参数时,要尽可能采用高角度的衍射 线。对于对称比较高的晶系,可采用加权平均法得到晶胞参 数。 如对于等轴晶系,实际得到一系列d值:
d100, d110, d200, d210, d220, d222…根据每个d皆可求得a:
a100, a110, a200, a210, a220, a222… a=(a100+2a110+3a200+4a210+5a220+6a222)/21
第五章. X射线结果分析
2 精确测定晶胞参数(5)
另外,为了更精确地测定晶胞参数,还可以加入标准物
质对每个衍射峰的位置进行校正,把标准物质和被测试样的 粉末混和均匀,同时测量。用标准物质的峰位误差来校正试 样峰位。 常用的标准物质有:α-石英、硅、α刚玉等。
第五章. X射线结果分析
3 物相鉴定(1)
亦称之为物相定性分析。 定性分析的任务是鉴别出待测样品是由哪些物相组成。 X射线之所以能用于物相分析是因为由各衍射峰的角度 位置所确定的晶面间距d以及它们的相对强度I/Io是物质的 固有特性。 每种物质都有特定的晶格类型和晶胞尺寸,而这些又都 与衍射角和衍射强度有着对应关系,所以可以象根据指纹来 鉴别人一样用衍射图像来鉴别晶体物质,即将未知物相的衍 射花样与已知物相的衍射花样相比较。
第五章. X射线结果分析
3 物相鉴定(2) 既然多晶体的衍射花样是被鉴定物质的标志,那么就有 必要大量搜集各种已知物质的多晶体衍射花样。 Hanawalt早在30年代就开始搜集并获得了上千种已知物 质的衍射花样,又将其加以科学分类,以标准卡片的形式保 存这些花样,这就是粉末衍射卡片。 PDF 卡片 (Powder Diffraction Files) 或者称之为JCPDS卡片 (Joint Committee of Powder Diffraction Standards) 至今,科学家收集的衍射卡片已达近10万张。
第五章. X射线结果分析
3 物相鉴定:衍射卡片的内容 (3)
第五章. X射线结果分析
3 物相鉴定:衍射卡片的排列 (4)
对于近10万张卡片,其排列基 本没有规律性,只是分了无机和有 机两大类。
排列时,有的是按照发现的先 后,有的是按照被引用进卡片库的 时间。因此如果不掌握索引的方法, 要查找到某一种物相所对应的卡片, 几乎是完全不可能的。
第五章. X射线结果分析
3 物相鉴定:衍射卡片的排列 (5) 即使同一种物质相,也有可能有2-3 张卡片,原因是,先收集进入卡片库的衍 射数据可能精度较低,或者可能存在某些 错误。后收集进入卡片库的卡片,和先收 集进入的,不在同一位置。
卡片按先后顺序排列,分组 (01- 45),每一组中按序号排列。组号、序号 皆与物质的特征无任何关系。
第五章. X射线结果分析
3 物相鉴定:衍射卡片的索引 (6) 1)字母索引 alphabetical Index (化学成分索引) 按物质成分的全称描述,依字母顺序排列。 如:石英:SiO2: Silicon Oxide
尖晶石:MgAl2O4: Magnesium Oxide: Aluminum或: Aluminum Oxide: Magnesium YBaCuO4: Ytterium Oxide: Barium, Copper 或: Barium Oxide: Ytterium, Copper 或: Copper Oxide: Ytterium, Barium
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3 物相鉴定:衍射卡片的索引 (7) 1)字母索引的排列内容
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3 物相鉴定:衍射卡片的索引 (8) 2)英文名称索引
按化合物的英文名称排序。
但只限于有英文学名的物质,如α- quartz, diamond,而 对无学名的物质,尤其是合成的化合物,则无法在其中排 列。
上述两种索引方法只可应用于当物质的成分已知的情 况下,而对完全未知的物质,则无法用其进行索引。
第五章. X射线结果分析
3 物相鉴定:衍射卡片的索引 (9) 3)Hanawalt索引(三强峰索引)
每种物质的所有衍射峰之中,必 然有三个峰的强度最大(而非面网间距 最大)。 把这三个强度最大的峰取出,按 一定的规律排序,就构成了Hanawalt排 序和索引方法。
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