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电性能vs失效分析2(2)

来源:网络收集 时间:2026-08-30
导读: UOC影响因素 UOC影响因素开路电压 低 材料本体 工艺因素 硅片电阻率高 硅片质量较差 少子寿命低 硅片厚度厚 制绒表面 损伤层未完全 去除,减薄量小 扩散PN结 质量较差 扩散炉管 洁净度差 PE钝化效果 较差 扩散钝化

UOC影响因素 UOC影响因素开路电压 低

材料本体

工艺因素

硅片电阻率高

硅片质量较差 少子寿命低

硅片厚度厚

制绒表面 损伤层未完全 去除,减薄量小

扩散PN结 质量较差 扩散炉管 洁净度差

PE钝化效果 较差 扩散钝化效果 较差

网印背电场 效果较差

Rsh小 暗电流大

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