数字电路与逻辑设计

数字电路与逻辑设计(一)基础实验

(二)课程设计

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(一)实验项目1 2

实验一 集成门电路功能测试实验二 组合逻辑电路设计 实验三 触发器及其应用

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实验四 中规模计数器及应用实验五 中规模集成电路综合应用

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(二)课程设计

简易数字频率计

数字电路与逻辑设计实验一 集成门电路功能测试

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一、实验目的 1、了解门电路的逻辑功能，熟悉芯片的外形 和引脚。

2、掌握门电路逻辑功能的测试方法。3、学习查阅集成电路器件手册，掌握常用仪 器的使用方法。

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二、实验条件 (一)、仪器：双踪示波器、三用表、直流 稳压电源、函数信号发生器、数字电子 技术实验箱 (二)、芯片：74LS20、74LS32、74LS04、 74LS00

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芯片引脚介绍

74LS00引脚

74LS20引脚其他芯片引脚请参看P260-261

七段数码管显示区 发光二极管管显示区电 源 电 位 器

电源连线区

地线 连线区 电源

连 续 脉 冲 源

电源、地

逻辑开关

单脉冲源

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三、实验原理A0 0 1 1

B0 1 0 1

Y1 1 1 0

TTL与非门的逻辑功能：当输入端有 一个或一个以上是低电平时，输出为高 电平；只有输入端全部为高电平时，输 出才是低电平。

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四、实验内容1 测试74LS00、 74LS20、 74LS32、74LS04的逻辑功能 。

2

测试电压传输特性

3

测试平均传输延迟时间tpd

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1、 测试门电路的逻辑功能。 74LS00四-2输入与非门 74LS20二-4输入与非门 74LS32四-2输入或门 74LS04六反相器

注意： (1).门的输入端接逻辑开关区 (2).门的输出端接发光二极管电平显示区 (3).按真值表测试门电路的逻辑功能

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2、 测试电压传输特性。(P257) 按书中电路图接线。

利用电位器调节输入电压，按表的要求逐点测出输出电压，将结果记录表格中。 另一种方法(选做): 输入端接三角波，用示波器看输出波形。

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3、 测试平均传输延迟时间tpd。

用奇数个非门电路环形连在一起，电路会产生一定频率的自激振荡。

1

2

3

如图所示，是由3个门组成的环形振荡器。 测出输出波形的周期T,就可以计算出门的平均传 输延迟时间: tpd=T/2n

(n是连接成环形的门的个数)

国

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测试方法：

1.用示波器观察任意点波形，测出环形振荡器的周期，计算门电路的平均传输延迟时间。 2.用频率计(函数信号发生器IN PUT端)测量 环形振荡器的频率，计算其周期及门电路的平均传 输延迟时间。

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频率显示

频率范围选择开关

电源开关

信号输入接口

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五、注意事项1、连线时，应断电，安全操作。2、插入芯片，看定位标记(凹槽在左边)

及管脚(整理平直)。3、管脚连接时，先接好电源(14脚)及地 线(7脚)。 4、插线时，线要插牢，插入线时右旋拧紧， 拔线时左旋拔出。