单片机实验讲义(5)

八、程序框图：T6.ASM

主程序框图

中断程序框图

实验七 8255A可编程并行接口实验一

一、实验目的：

1． 了解8255A芯片的结构及编程方法。 2． 掌握通过8255A并行口读取开关数据的方法。 二、实验设备：

EL-MUT-III型单片机实验箱、8051CPU模块 三、实验原理：

设置好8255A各端口的工作模式。实验中应当使三个端口都工作于方式0，并使A口为输出口，B口为输入口。 四、实验内容：

利用8255A可编程并行接口芯片，重复实验四的内容。实验可用B通道作为开关量输入口，A通道作为显示输出口。

五、实验电路：

六、实验步骤：

8255A的PA0～PA7接发光二极管L1～L8；PB0～PB7接开关K1～K8；片选信号8255CS接CS0。 七、程序框图：

系统初始化，设置8255的A口输出，B口输入。通过8255的B口将开关的状态读入CPU中通过8255的A口将读入的开关状态送给发光二极管显示延时10ms

八、参考程序：T7.ASM

NAME T7 ;8255A实验一

CSEG AT 0000H LJMP START CSEG AT 4100H

PA EQU 0CFA0H PB EQU 0CFA1H PCTL EQU 0CFA3H

START: MOV DPTR,#PCTL ;置8255A控制字，A、B、C口均工作 ;方式0，A、C口为输出，B口为输入 MOV A,#82H MOVX @DPTR,A

LOOP: MOV DPTR,#PB ; MOVX A,@DPTR

MOV DPTR,#PA ; MOVX @DPTR,A

MOV R7,#10H ;DEL0: MOV R6,#0FFH DEL1: DJNZ R6,DEL1 DJNZ R7,DEL0 JMP LOOP END

从B口读入开关状态值 从A口将状态值输出显示 延时

实验八 8255A可编程并行接口实验二

——键盘实验 一、实验目的：

1． 掌握8255A编程原理。 2． 了解键盘电路的工作原理。 3． 掌握键盘接口电路的编程方法。 二、实验设备：

EL-MUT-III型单片机实验箱、8051CPU模块 三、实验原理：

1．识别键的闭合，通常采用行扫描法和行反转法。

行扫描法是使键盘上某一行线为低电平，而其余行接高电平，然后读取列值，如所读列值中某位为低电平，表明有键按下，否则扫描下一行，直到扫完所有行。

本实验例程采用的是行反转法。

行反转法识别键闭合时，要将行线接一并行口，先让它工作于输出方式，将列线也接到一个并行口，先让它工作于输入方式，程序使CPU通过输出端口往各行线上全部送低电平，然后读入列线值，如此时有某键被按下，则必定会使某一列线值为0。然后，程序对两个并行端口进行方式设置，使行线工作于输入方式，列线工作于输出方式，并将刚才读得的列线值从列线所接的并行端口输出，再读取行线上的输入值，那么，在闭合键所在的行线上的值必定为0。这样，当一个键被按下时，必定可以读得一对唯一的行线值和列线值。

2．程序设计时，要学会灵活地对8255A的各端口进行方式设置。

3．程序设计时，可将各键对应的键值（行线值、列线值）放在一个表中，将要显示的0～F字符放在另一个表中，通过查表来确定按下的是哪一个键并正确显示出来。 实验题目