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单片机实验讲义

来源:网络收集 时间:2026-08-09
导读: 基本实验(8051) 实验一 P1口实验一 一、实验目的: 1. 2. 学习P1口的使用方法。 学习延时子程序的编写和使用。 二、实验设备: EL-MUT-III型单片机实验箱、8051CPU模块 三、实验内容: 1. 2. P1口做输出口,接八只发光二极管,编写程序,使发光二极管循

基本实验(8051)

实验一 P1口实验一

一、实验目的: 1. 2.

学习P1口的使用方法。 学习延时子程序的编写和使用。

二、实验设备:

EL-MUT-III型单片机实验箱、8051CPU模块 三、实验内容: 1. 2.

P1口做输出口,接八只发光二极管,编写程序,使发光二极管循环点亮。 P1口做输入口,接八个按纽开关,以实验箱上74LS273做输出口,编写程序读取

开关状态,在发光二极管上显示出来。 四、实验原理:

P1口为准双向口,P1口的每一位都能独立地定义为输入位或输出位。作为输入位时,必须向锁存器相应位写入“1”,该位才能作为输入。8031中所有口锁存器在复位时均置为“1”,如果后来在口锁存器写过“0”,在需要时应写入一个“1”,使它成为一个输入。

可以用第二个实验做一下实验。先按要求编好程序并调试成功后,可将P1口锁存器中置“0”,此时将P1做输入口,会有什么结果。

再来看一下延时程序的实现。现常用的有两种方法,一是用定时器中断来实现,一是用指令循环来实现。在系统时间允许的情况下可以采用后一种方法。

本实验系统晶振为6.144MHZ,则一个机器周期为12÷6.144us即1÷0.512us。现要写一个延时0.1s的程序,可大致写出如下:

MOV R7,#X (1) DEL1:MOV R6,#200 (2) DEL2:DJNZ R6,DEL2 (3) DJNZ R7,DEL1 (4)

上面MOV、DJNZ指令均需两个机器周期,所以每执行一条指令需要1÷0.256us,现求出X值:

1÷0.256+X(1÷0.256+200×1÷0.256+1÷0.256)=0.1×10? 指令(1) 指令(2) 指令(3) 指令(4) 所需时间 所需时间 所需时间 所需时间

X=(0.1××10?-1÷0.256)/(1÷0.256+200×1÷0.256+1÷0.256)=127D=7FH 经计算得X=127。代入上式可知实际延时时间约为0.100215s,已经很精确了。 五、实验原理图:

P1口输出实验

P1口输入实验

六、实验步骤:

执行程序1(T1_1.ASM)时:P1.0~P1.7接发光二极管L1~L8。

执行程序2(T1_1.ASM)时:P1.0~P1.7接平推开关K1~K8;74LS273的O0~O7接发光二极管L1~L8;74LS273的片选端CS273接CS0(由程序所选择的入口地址而定,与CSO~CS7相应的片选地址请查看第一部分系统资源,以后不赘述)。

七、程序框图:

程序初始化,设置P1口寄存器的初值为FEH延时0.1 秒,使显示稳定将P1口寄存器的数值逐位左移1位 循环点亮发光二极管

程序初始化,设置P1口为输入口将P1口数值读入累加器A将累加器A的数值送到273显示

通过发光二极管将P1口的状态显示

八、参考程序:

1、循环点亮发光二极管(T1_1.ASM)

NAME T1_1 ;P1口输实验 CSEG AT 0000H LJMP START CSEG AT 4100H START: MOV A,#0FEH

LOOP: RL A ; 左移一位,点亮下一个发光二极管 MOV P1,A LCALL DELAY JMP LOOP

;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;; DELAY: MOV R1,#127 ; 延时0.1秒 DEL1: MOV R2,#200 DEL2: DJNZ R2,DEL2 DJNZ R1,DEL1 RET

;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;; END

2、通过发光二极管将P1口的状态显示(T1_2.ASM)

NAME T1_2 ;P1口输入实验 OUT_PORT

EQU

0CFA0H

;延时 0.1秒

CSEG AT 0000H LJMP START CSEG AT 4100H

START: MOV P1,#0FFH ;复位P1口为输入状态 MOV A,P1

;读P1口的状态值入累加器A

MOV DPTR,#OUT_PORT ;将输出口地址赋给地址指针DPTR MOVX @DPTR,A ;将累加器A的值赋给DPTR指向的地址 JMP START ;继续循环监测端口P1的状态 END

实验二 P1口实验二

一、实验目的: 1. 2.

学习P1口既做输入又做为输出的使用方法。 学习数据输入、输出程序的设计方法。

二、实验设备:

EL-MUT-III型单片机实验箱、8051CPU模块

三、实验原理:

P1口的使用方法这里不讲了。有兴趣者不妨将实验例程中的“SETB P1.0, SETB P1.1”中的“SETB”改为“CLR”看看会有什么结果。

另外,例程中给出了一种N路转移的常用设计方法,该方法利用了JMP @A+DPTR的计算功能,实现转移。该方法的优点是设计简单,转移表短,但转移表大小加上各个程序长度

必须小于256字节。 四、实验原理图:

P1口输入、输出实验

五、实验步骤:

平推开关的输出K1接P1.0;K2接P1.1;

发光二极管的输入L1接P1.2;L2接P1.3;L5接P1.4;L6接P1.5。

运行实验程序,K1做为左转弯开关,K2做为右转弯开关。L5、L6做为右转弯灯,L1、L2做为左转弯灯。

结果显示:1:K1接高电平K2接低电平时,右转弯灯(L5、L6)灭,左转弯灯(L1、L2)

以一定频率闪烁;

2:K2接高电平K1接低电平时,左转弯灯(L1、L2)灭,右转弯灯(L5、L6)以一定

频率闪烁;

3:K1、K2同时接低电平时,发光二极管全灭; 4:K1、K2同时接高电平时,发光二极管全亮。 六、参考程序:T2.ASM

NAME T2 ;P1口输入输出实验 CSEG AT 0000H LJMP START CSEG AT 4100H START: SETB P1.0

SETB P1.1 ;用于输入时先置位口内锁存器

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