SPC中初级考核试题(1)

SPC 初中級考核試題

得分： 、姓名： 、工號： 、部門： 、職務：

一. 是非題：對的在（ ）內打V 、錯的在（ ）內打X （每小題5分，共30分）

1.規劃資料的收集，整理與解釋資料，並據以導出結論或予以推廣的制程，稱為統計方法.（ V ）

2.群體〈Population 〉，可為整個制程的所有製品或半成品之全部測定值，亦可為一大批貨品，一小批貨品，一天內的製品或半成品，一小時內的製品.（ V ）

3.群體的構成，特別應注意 層別 ：不同批原料、不同機器設備、不同班別、不同操作員等。（ V ）

4.機遇原因的變異：制程中不常發生，但造成制程變異的原因。所造成之分佈與時間的關係，是不穩定且不無法預期的。（ X ）

5.非機遇原因的變異：制程中變異因素是在統計的管制狀態下『受控』。（ X ）

6.在諸多管制圖中，當選用C chart or NP chart 時，不需要考慮抽樣樣本大小。（ X ）

二. 名詞解釋：（每小題5分、共20分）

1. 何為Ca 及其計算公式？（雙邊規格）

Ca ：制程精確度

2. 何為Cp 及其計算分式？（雙邊規格）

雙邊規格取如上兩者間的最小值

Cp ：制程精密度

3. 何為Cpk 及其計算分式？（雙邊規格）

Cpk 制程能力指數

Cpk=(1-Ca)*Cp

三. 簡答題：（每小題10分、共30分）

1. 請寫出Xbar —R 管制圖的異常判讀基准？

%規格容許差規格中心

實績中心-=Ca σ

σ6

3規格公差

規格容許差==Cp

2.請寫出選用管制圖的步驟？

1、选择需控制的产品质量特征值

2、确定抽样方案

3、搜集数据

4、确定中心线和上下控制限

5、绘制X-bar 和R控制图确定抽样方案

6、描点,必要时重新计算中心线和上下控制限

3.請結合TSMT SMT-DIP實際制程，列出4個作業站及其所用管制圖名稱，如下表：