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实验二 CMOS集成逻辑门的参数测试

来源:网络收集 时间:2026-08-11
导读: 实验二 CMOS集成逻辑门的参数测试 一.实验目的 1.了解CMOS集成门电路的基本性能和使用方法。 2.学习CMOS集成门电路主要参数的测试方法。 二.实验原理 CMOS逻辑门电路由NMOS和PMOS管组成。它具有功耗低、电源电压范围广、输出逻辑电平摆幅大、噪声容限高

实验二 CMOS集成逻辑门的参数测试

一.实验目的

1.了解CMOS集成门电路的基本性能和使用方法。 2.学习CMOS集成门电路主要参数的测试方法。

二.实验原理

CMOS逻辑门电路由NMOS和PMOS管组成。它具有功耗低、电源电压范围广、输出逻辑电平摆幅大、噪声容限高、输入阻抗高、制造工艺简单、可靠性高等优点。

本实验所用CMOS与非门型号为CD4011,是2输入端四与非门。内部逻辑图及引脚排列如图2—1(a)、(b)所示。

(a) (b)

图2—1

1.CMOS与非门的逻辑功能

尽管CMOS与非门内部电路结构与TTL与非门不同,但它们的逻辑功能是完全一样的。 2.CMOS与非门的主要参数

CMOS与非门主要参数的定义及测试方法与TTL相仿,简述如下: (1)静态功耗PD 导通功耗PDL=IDLUDD

截止功耗

PDH=IDHUDD

测试电路如图2—2(a)、(b)所示,CMOS电路的静态功耗非常低,一般为微瓦数量级。

(2)输出高、低电压UOH和UOL

输出高、低电平通常是指在输出端不带任何负载的情况下测量的。当输入端全部接高电平时,测得的输出电平就是UOL(?OV);当输入端有一个为低电平时,测得的输出电平就是UOH(?UDD)

(a) (b)

图2—2

(3)拉电流和灌电流负载能力

(a)图2—3(a)所示电路中,输入端接低电平,输出端接拉电流负载RL,调节RL,当UOH下降到10V时所对应的负载电流即为允许的拉电流IOH。图中RO=1k?是采样电阻,只要测出Ro上的电压URO,即可求得:

IOH= URORO

(b)图2—3(b)所示电路,输入端接高电平,输出端接灌电流负载RL,调节RL,当UOL上升到0.5V时所对应的负载电流即为IOL。此时,

IOL= URORO

(a) (b)

图2—3

(3)电压传输特性

CMOS门电路电压传输特性的测量方法类似于TTL门电路。图2—4 为逐点测量电压传输特性的实验电路。

图2—4

CMOS与非门CD4011的主要参数规范(UDD=10V) a.静态电源电流 ≤5?A e.最大允许电压 18V b.输出低电平 0.1V f.最小允许电压 3V

c.输出高电平 9.5V g.输出延迟时间 tpH 300~150ns tpL d.输出驱动电流 300~150ns IOL?300?bA IOH?300?A h.输入电容 5PF 3.CMOS电路使用注意事项

(1)UDD接电源正极,USS接电源负极(通常接地),电源绝对不容许反接。 (2)电源电压使用范围+3V~+18V,实验中一般要求使用+12V或+5V电源。工作在不同电源电压下的器件,其输出阻抗,工作速度和功耗等参数也会不同,在设计、使用中应引起注意。

(3)器件输入信号ui,要求USS?Ui?UDD。

(4)闲置输入端一律不准悬空,输入端悬空,不仅会造成逻辑混乱,而且容易损坏器件。

闲置输入端的处理方法:

a.按照逻辑要求,直接接UDD或USS。

b.工作速度不高的电路中,允许与有用输入端并联使用。

(5)输出端不允许直接与UDD或USS连接,否则将导致器件损坏。

(6)除三态器件外,一般不允许几个器件输出端并接使用。为了增加驱动能力,允许把同一芯片上电路并联使用,此时器件的输入端与输出端均对应相连。

(7)电烙铁和测试仪器外壳必须良好接地。

(8)若信号源与CMOS器件使用两组电源供电,应先开CMOS电源,并最后关闭CMOS电源。

三.实验设备及器件

1.示波器(自备);

2.直流电压表、毫安表

3.CMOS二输入四与非门CD4011×1

四.实验内容

取UDD+12V、USS接地。按CMOS集成电路使用规则接线及操作。 1.验证CD4011的逻辑功能

参考实验一有关部分,记录测试结果。 2.测量静态功耗PO

按图2—2(a)接线,测量IDL,计算POL。记录之。 按图2—2(b)接线,测量IDH,计算POH。记录之。 3.测量输出高电平UOH及输出低电平UOL。 4.测量拉电流负载能力IOH及灌电流负载能力IOL。 按图2—3(a)接线,测量URO,计算IOH。 按图2—3(b)接线,测量URO,计算IOL。 5.测量电压传输特性

(1)取UDD=12V,逐点测量电压传输特性,并从中读出有关参数值。记录表2—1。 表2—1 Ui(V) Uo(V) 表2—2 Ui(V) Uo(V)

0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0 5.0 … 0 1.0 2.0 3.0 4.0 5.0 6.0 7.0 8.0 9.0 10.0 11.0 … (2)取UDD=5V,重复(1)内容。记录表2—2中。

五.实验报告

1.整理实验数据,绘出实验曲线和波形。

2.比较CMOS和TTL与非门参数,并总结电路的特点。 3.比较CMOS和TTL与非门的电压传输特性,分析它们的特点。

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