测量系统分析程序(3)

b）10%≤%R&R≤30%，依据量具的重要性、成本及维修费用等因素，决定是否可接受或不可接受； c）%R&R＞30% 不可接受，必须进行改进

7.1.7.5当%R&R某一测量系统的分析结果为不能接受时，应对以前用该量具检测得成品或库存进行抽查检验，如有发现已超出规格要求，必须立即追踪并通知顾客进行妥善处理。

7.1.8稳定性分析法

7.1.8.1取一样本并建立相对于可溯源标准的基准值。如果该样品不可获得，选择一个落在产品测量中程数的生产零件，指定其为稳定性分析的标准样本。对于追踪测量系统稳定性，不需要一个已知基准值。

具备预期测量的最低值，最高值和中程数的标准样本是较理想的。建议对每个标准样本分别做测量与控制图。

7.1.8.2定期（天、周）测量标准样本3~5次，样本容量和频率应该基于对测量系统的了解。因素可以包括重新校准的频次、要求的修理，测量系统的使用频率，作业条件的好坏。应在不同的时间读数以代表测量系统的实际使用情况，以便说明在一天中预热、周围环境和其他因素发生的变化。将其测量的数据记录于“量具稳定性分析报告”中；

7.1.8.3将测量值描绘在“X-R控制图”或“X-S控制图”上。

7.1.8.4计算控制限，确定每个曲线的控制限并根据控制图对失控或不稳定状态作出判断。

7.1.8.5计算测量结果的标准偏差，并将其与过程的标准偏差进行比较，以确定测量系统的稳定性是否适用；如分析结果显示，测量系统的标准偏差大于过程的标准偏差，则此量具是不可接受的。 7.1.8.6利用控制图的判定方式对稳定性的准则进行判定： a）不能有点子超出上、下控制限；

b）连续3点中不能有2点落在A区或A区以外之区域； c）连续5点不能有4点落在B区或B区以外之区域；

d）不能有连续8点（或更多点）落在控制中心线的同一侧； e）不能有连续7点（或更多点）持续上升或下降。

7.1.8.7凡呈现不稳定状态时，代表量具已经不稳定，必须对量具进行校准或维修，量具维修并经重新校准合格后，应重新对量具进行稳定性分析。

7.1.9偏倚分析法 7.1.9.1独立样本法

A、选取一样本并建立相对于可溯源标准的基准值。如果该样品不可获得，选择一个落在产品测量中程数的生产零件，指定其为分析的标准样本。可能需要建立相应于预期测量范围的高、中、低三个数值的三个样品并对每个样品用更精密的量具测量10次计算其平均值，此值即为“基准值”。

B、由一名评价人以常规的方式对每个样品测量10次，并将测量结果记录于“量具偏倚分析报告”中，然后计算10次读数的平均值，此值即为“观测平均值”。 C、计算偏倚：

偏倚=观测平均值-基准值； 过程变差=6σ

偏倚%=偏倚/过程变差×100%

D、过程变差无法求得时，可用规格公差代替，这样“偏倚%”的计算公式中分母使用“规格公差”代替。 7．1.9.2图表法：如果用评价稳定性的X-R控制图中的数据，也可以用来评价偏倚。

A、选取一样本并建立相对于可溯源标准的基准值。如果该样品不可获得，选择一个落在产品测量中程数的生产零件，指定其为分析的标准样本。可能需要建立相应于预期测量范围的高、中、低三个数值的三个样品并对每个样品用更精密的量具测量10次计算其平均值，此值即为“基准值”。 B、以X-R控制图或X-σ控制图表中的数据计算出X值。 C、计算偏倚：

偏倚=X-基准值； 过程变差=6σ

偏倚%=偏倚/过程变差×100%

7.1.10线性分析法：

7.1.10.1在测量系统工作范围内选定5个产品，它们的测量值应覆盖量具工作范围。

7.1.10.2在计量室或工具间用全尺寸检验设备（精密量具）测量每个产品10次，并计算其平均值，然后将其确定为“基准值”，同时确定它们各自所取得的“基准值”是否覆盖了被检量具的工作范围。 7.1.10.3让一位经常使用该量具的操作员对5个产品以盲测法按随机抽取顺序分别测量每个产品各10次（或更多次），并将其测量值记录在“量具线性分析报告”中，然后计算各个产品的测量平均值，此值即为每个产品的“观察平均值”。 7.1.10.4计算偏倚平均值：

偏倚平均值=观察平均值-基准值；过程变差=6σ 7.1.10.5绘图：

采用下列公式计算有关参数，然后绘图。 方程式：Y=b+ax 其中：x=基准值 y=偏倚 b=截距 a=斜率

拟合优度=R*R

7.1.10.6线性接受准则：

A、对测量重要特性的系统，线性%≤5%可接受。 B、对测量一般特性的系统，线性%≤10%可接受。 C、线性%＞10%时，该测量仪器不可接受。

7.1.10.如果线性%值大于10%时，可以从以下方法中查找原因： A、在工作范围内上限或下限内仪器没有正确校准。 B、最小或最大值校准量具的误差。 C、磨损的仪器。

D、仪器固有的设计特性

7.1.11计数型量具小样法分析： 7.1.11.1取样：选取20个零件，然后由2为评价人以一种能防止评价人偏倚的方式（一般采用盲测法）二次测量所有的零件，并将所测量的数据记录在“计数型量具小样法分析报告”； 在选取的20个零件中，一些零件会些许低于或高于规范限值。

7.1.11.2判定：如果所有测量结果（每个零件4次测量）一致则接受量具，否则应改进或重新评价该量具。如果不能改进量具，则不能接受，并应找到一个可以接受的替代测量系统。

7.1.12计量部门依年度“测量系统分析计划”对检验、测量和试验设备进行测量系统分析，并将测量分析的结果转交至论证小组审核，最后由部门领导校准。

7.1.13当量具的测量系统分析结果趋近允许接受的下线时，计量室人员应及时将测量系统分析结果通知项目组和制造部门。

7.1.14项目组应对测量系统分析能力不足的量具机器适用性重新进行评估，并确定处理对策 7.1.15计量部门领导依据测量系统分析报告进行合格/不合格审核，当判定不合格时，计量部门应对量具重新进行测量系统分析，然后采取纠正与预防措施。

7.1.16相关测量系统分析记录之保存与列管，由相关部门参照《记录控制管理程序》进行作业。

8.附表

量具重复性和再现笥数据收集表 评价人/ 试验# A 1 2 3 均值 极差 B 1 2 3 均值 极差 C 1 2 3 零件 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 均值 X a= R a= X b= R b= X c= R c= X = R p= R= 均值 极差 零件均值 ([R a= ] + [R b= ] + [ R c= ]) / [评价人数 ] = X DIFE = [MaxX = ] — [MinX = ] = *UCLR =[R= ]×[D4 = ]= X DIFE 2次试验D4=3.27, 3次试验D4=2.58。UCLR 代表了单个极差的控制限。圈出那些超过控制限的点， 识别原因并纠正。使用与开始时相同的评价人及单位重复这些读数，或者放弃某些值，从保留的 观察值重新平均，重新计算R和控制限。 注：

量具重复性和再现性报告 零件号和名称： 量具名称： 日期： 特性： 量具号： 完成人： 规范： 量具类型： R = X DIFF = …… 此处隐藏：1773字，全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……