微电子器件实验指导书(实验3)(3)

来源：网络收集时间：2026-07-08

导读： 6. 此时图形显示区域有AB曲线显示，“参数”区域显示测试的参数值。 7. 若需调整测量扫速或测量参数，请按“↑↓←→”及“确认”键进行调整。 8. 如果测试结果需要打印，按“打� 卑磁ィ≡袷实钡摹癝TART”和“EN

6. 此时图形显示区域有AB曲线显示，“参数”区域显示测试的参数值。 7. 若需调整测量扫速或测量参数，请按“↑↓←→”及“确认”键进行调整。

8. 如果测试结果需要打印，按“打印”按钮，选择适当的“START”和“END”，连接好打印

机，就可以打印了。

五、注意事项和要求

1．正确连接开关的四个部分，注意A屉、B屉开启和关闭的顺序。

2．琴键开关必须与测试盒一致，否则仪器将会损坏，例：选用的测试盒的标称是IB = 1mA，IC = 10mA，就应将琴键的“1/10”键按下。

3．当波形不在图形显示区域，注意调节扫描到适当档级。

六、作业及预习要求

1. 分别测量NPN型和PNP型三极管的开关时间，在显示器上观察晶体管输入和输出波形，并从测试系统中读出开、关时间参数。

2. 测量高频管（如3DK2A/3DG180M/3DG54F）和低频管或具有不同电流增益的晶体管的开、关时间，研究晶体管本身参数对开关时间的影响。 3. 预习晶体管开关特性相关知识。

七、参考书目

? 陈星弼、张庆中。晶体管原理与设计电子工业出版社

? 刘刚、何笑明、陈涛。微电子器件与IC设计科学出版社

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