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中华人民共和国电子行业军用标准-硅外延片(2)

来源:网络收集 时间:2026-08-28
导读: 除非另有规定,试制检验应取适量的样本按规范表2规定的全部检验项目进行检验,不允 许出现不合格项目。 4.5质量一致性检验 4.5.1 检验批的组成 一个检验批应由相同牌号、相同规格、在基本相同的条件下生产、并在同

除非另有规定,试制检验应取适量的样本按规范表2规定的全部检验项目进行检验,不允

许出现不合格项目。 4.5质量一致性检验 4.5.1 检验批的组成

一个检验批应由相同牌号、相同规格、在基本相同的条件下生产、并在同一时间内提交检

验的外延片组成。 4.5.2质量一致性检验表格

质最一致性检验应按GJB 179一次抽样方案进行。检验项目、检验方法及可接受质量水 平(AQL)应符合表2的规定。当合同另有规定时按合同执行。

表2质量一致性检验

项 目 缺陷 厚度 厚度均匀性 载流子浓度 净裁流子浓度 均匀性 纵向载流子浓度 分布 要求的章条号 3.2.1表1 3.2.2 3.2.3 3.2.4 3.2.5 3.2.6 可按收受质量水平 (AQL) 1.0 6.5 6.5 6.5 6.5 6.5 检验方法的章条号 检查水平 4.7.1 4.7.2 4.7.2 4.7.3 4.7.3 4.7.4 Ⅱ

4.5.3不合格

按表2所列各检验项目全部合格的检验批为合格批。若有任何一项检验不合格则该批为 不合格。 4.5.4批的再提交

如果某一检验批被拒收,承制方可以剔除所有不合格品后重新进行检验。重新交付的检 验批应与正常批分开,并应清楚地标明“重新检验批”重新提交的批应采用加严检查方案。如

仍有不合格的项目则该检验批为不合格。 4.6包装检验

用目视法进行本规范第5章规定的包装和标志检验。任一运输包装箱不符合第5章的要 求时应拒收。 4.7检验方法 4.7.1缺陷的检验:

位错和堆垛层错密度的检验按SJ1550第3章方法进行。翘边检验方法按合同规定。表

l所列其它缺陷的检验按GB 6624规定进行。大点状缺陷采用大面积散射光源,点状缺陷采 用高强度狭束光源。

4.7.2厚度及其均匀性检验按SJ1550第2章方法进行。 4.7.3净载流解子浓度及其均匀性检验按SJ 1551方法进行。 4.7.4纵向载流子浓度分布检验按GB 6617方法进行。 5交货准备 5.1包装 5.1.1内包装

硅外延片应竖直、分立放置于塑料盒内,表面同向,防止沾污和振动,确保传递和贮存时不造成污损。每个盒外侧应帖标识,注明产品牌号、外延层厚度和载流子浓度、数量、生产批号及合同号。 5.1.2外包装

将装有硅外延片的若干个盒装入箱内,周围用软质填充料填充,使盒体在箱内不能自由移

动。放入装箱单和合格证书后加盖固封。包装箱应有足够强度,不易变形。

5.2运输和贮存

产品在运输过器中应防止化学物质腐蚀,碰撞和受潮。产品应贮存在干燥、洁净的环境 中。 5.3标志

每一包装箱外应注明: a. 制造厂名称; b. 产品名称; c. 数量; d. 合同号; e. 出厂日期;

f. 防震、防潮、防压标记。 6说明事项 6.1预定用途

本规范规定的硅外延片预定用于微波功率晶体管。 6.2订贷文件内容

合同和订单应载明下列内容: a. 本规范的名称、编号和日期; b. 牌号及其数量; c. 封装、包装方式; d. 其它特殊要求。 附加说明:

本规范由中国电子技术标准化研究所归口。 本规范由电子鄢第十三研究所负责起草。

本规范主要起草人:石志曾,张嘉萍,李戌德,吴福民,夏明颖。 计划项目代号:B25025。

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