电子产品可靠性试验-环境试验要点

电子产品环境试验要点

一、可靠性理论基础

二、试验（GB）

一．总则：GB2421-2008 电工电子产品环境试验

本系列标准不涉及环境试验样品性能要求， 环境试验期间和试验以后， 试验样品的容许性能限值由被试验样品的相关规范规定。

基准标准大气压：20℃，101.3KPa

测量与试验标准大气压：15℃-30℃，25%RH-75%RH，86KPa-106KPa。

自由空气条件：无限大空间，空气运动只受散热试验样品本身影响，样品辐射能量全部由周围空气吸收。 散热试验样品与非散热试验样品界定：在自由空气条件和试验标准大气压下，温度稳定后测得的试验样品温度与环境温度是否大于5℃。

环境温度：是采用在试验样品之下。0mm - 5 0mm的一个水平面上面。而且与试验样品和试验箱壁等距离处或者距离试样品1 m处若干温度。 ( 二者取温度值小的) 的平均值。 应采取适当措施防止热辐射影响这些温度的测量。

热稳定：试验样品表面温度与最后所测表面温度之差<3℃(非散热试验样最后所测表面温度即试验箱温度；散热试验样品则需多次测量才能确定)

A: 低温。 漏出的密封) 。

B: 高温 R: 水( 例如雨水、 滴水) 。

C: 恒定湿热。 S : 辐射( 例如太阳辐射， 但不包括电磁辐射) D: 交变湿热 T: 锡焊( 包括耐焊接热) 。

E: 冲撞( 例如冲击和碰撞) 。 U: 引出端强度( 元件的) 。

F: 振动。 V: 待定( 原分配在“ 噪声” . 但“ 噪声诱发的振动” G: 稳态加速度。 将归于试验F g ， 即“ 振动” 系列试验之一) 。 H: 待定( 原分配在贮存试验) 。 W: 待定。

J : 长霉。 X：作为字头与另一个大写字母一起用于新增加的试K: 腐蚀性大气( 例如盐雾) 。 验方法命名。例如试验XA：在清洗剂中浸渍 L: 砂尘。 Y: 待定。

M: 高气压或低气压 Z：用于表示综合试验与组合试验。方法如下：Z后面N: 温度变化。 跟一斜杠和一组综合实验或组合试验相关的大写字P : 待定( 原分配在“ 可燃性” 试验) 母。例如Z/AM:试验低温和低气压综合试验。 Q: 密封( 包括板密封， 容器密封与防止流体浸入和

综合试验：≥2种试验环境同时作用于试验样品。组合实验：依次连续暴露≥2种试验环境分别进行试验

试验顺序（s e q u e n c e o f t e s t s）试验样品被依次暴露到两种或两种以上试验环境中的顺序。 1 各次暴露之间的时间间隔通常对试验样品不产生明显影响

2 各次暴露之问通常要进行预处理和恢复

3 通常在每次暴露之前和之后进行检测， 前一项暴露的最后检测就是下 项暴露的初始检测

受控恢复条件：实际试验温度±1℃（15℃-30℃），73%RH-77%RH，86KPa-106KPa。（测量前如果要求对试验样品进行干燥， 除有关规范另有规定外， 应在下述的条件下干燥6 h。标准干燥条件55±2℃/<20%） 恢复条件：

条件试验后，在检测之前：试验样品应在检测环境温度下稳定；当样品试验后电气参数变化很快，应按受控恢复条件恢复；但当样品试验后电气参数变化不快，则按试验标准大气压恢复条件下进行恢复。持续时间在GB/T2423

恢复程序：条件试验之后10min内移到恢复箱，30min内完成恢复。

电子产品环境试验要点

气候试验顺序：

气候试验的顺序主要适用于各类元件， 为了在有要求时加以使用， 一般认为低温， 高温、 低气压和交变湿热试验之间有一定的联系， 并称之为气候顺序。进行这些试验的顺序如下: 一高温’一交变湿热( 上限温度为5 5℃的试验的第1 个循环) ;一低温’一低气压( 有要求时) ;一交变湿热( 上限温度5 5 ℃的试验的其余诸循环) 。

这些试验之间的时间间隔应不大于3d ， 但交变湿热试验第 一 循环与低温试验之间的时间间隔除外，这一 时间问隔包括恢复时间在内应不大于2h。测量通常只在气候顺序的开始和结束时进行. 另有规定者除外 为了编制一组合理的、 能表示适用于元件的气候条件的基本代码， 建议如下

气候类型用斜线隔开的三组数字表示， 分别代表元件能承受的低温试验， 高温试验的温度和湿热 ( 恒定) 试验天数。

第一 组: 用两位数字表达元件工作的最低环境温度( 低温试验) 。 如温度在0℃以上，且为一位数， 则在前面加“ 十” 号。如为负温度， 且为一位数， 则在前面加“0” ， 以补够两位数。

第二组: 用三位数字表达元件工作的最高环境温度( 高温试验) 。如为两位数， 则应在前面加“0”， 补够三位数。

第三组: 用两位数字表达恒定湿热试验( C a ) 的天数， 如试验天数只有一位数， 则应在前面加“0” 字补够两位数， 如不要求将元件曝露子恒定湿热环境， 则用数字“ 0 0 ” 表示。

为将元件归入某一类型， 该元件在接受该类型所规定的全套试验时， 必须符合相关规范的要求

A归入5 5 / 1 0 0 / 5 6 类的元件， 至少应符合下述试验要求:

a )低温: 一5 5 ℃, ;

b ) 高温t +1 0 0 ℃;

c )湿热( 恒定) : 5 6 d

B归人2 5 / 0 8 5 / 0 4 类的元件， 至少应符合下述试验要求:

a) 低温: 一2 5 ℃;

b ) 高温: +8 5℃;

c )湿热( 恒定) : 4 d

C 归入1 0 / 0 7 0 / 2 1 类的元件， 至少应符合下述试验要求:

a ) 低温: -10℃;

b )高温: +7 0 ℃;

c ) 湿热( 恒定) : 2 1 d

D归入+5 / 0 55 / 0 0 类的元件， 至少应符合下述试验要求:

a )低温: +5 ℃;

b ) 高温: 十5 5 ℃;;

c ) 湿热( 恒定) : 无要求。

试验条件与试验时间的选择：可参考GB 4794；加大应力要注意加速因子的合理性

各种环境参数对主要影响：

试验顺序及选择原则

注: 例子

a ) 组合试验: 试验Z / A D(GB/T2423.34)

b )试验顺序: 首先试验T (GB/T2423.28)

接着试验Na (GB/T2423.22)

最后试验Fa (GB/T2423.5)

二．术语GB_2422-1995T_电工电子产品环境试验

GB2423术语及定义

组合试验中：注意各次试验之间的试验间隔；各次试验间隔不进行预处理恢复与稳定；检测在最初与最后。 顺序试验中：时间间隔——上次试验应不对试验样品产生明显影响；各次试验间隔应进行预处理恢复与稳定；检测在第一次与最后一次暴露之后；前一项暴露之后检测作为下一次暴露试验的初值。

电子产品环境试验要点

三．电工电子产品基本环境试验—第二部分 试验方法

3.1 第一大类：气候试验

3.1.1 试验Z/ABDM气候顺序： GB/2423.45-1997

常用方法一（1，3步后试验间隔应小于3D）

（1）高温试验：Ba条件，16h±0.5H；恢复>1H,检测；

（2）温热： 55℃；一周；

（3）低温：试验Aa条；2H±5min；

（4）低压：M条件，15-35℃；1H±5min；(有电气强度试验，在最后5min试验；恢复1-2H)；

3.1.2 试验B，高温：GB/2423.2-2008

注：不能用于评价样品耐温度变化和在温度变化下的运行能力,在这种情况下采用GB2423.22

1. 工作空间低气流速度：空气流速<0.5m/s（对试验样品表面温度影响小于5K）。对应高气流速度。

2. 试验分类：试验箱内温度变化应小于1K/min(不超过5min的平均值)

2.1 试验Bb：非散热样品高温试验，在高温条件下样品温度达到稳定再通电（一般在非工作状态下试验）。采用高气流速度循环。

2.2 试验Bd

2. …… 此处隐藏：5151字，全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……