泰克推出最新的串行分析仪,完善PCI Express 2.0测试解决方案

泰克公司(NYSE：TEK)日前宣布,为测试和验证PCI Express(PCIe)1.0和2.0设计推出新的TLA7S16和TLAS08串行分析仪。泰克新的串行分析仪产品以独一无二的方式提供了详细的PCIe2.0协议信息及跨总线分析功能。它们增强了业内最完整的PCIe测试解决方案,使得开发下一代高速计算平台成为可能。

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士研究生，要研究方向为统计信号处主理，自适应信号处理。

泰克推出最新的串行分析仪，善 P I x rs .完 C p es 0测试解决方案 E 2泰克公司 ( Y E T K日前宣布， NS:E )为测试和验证 P I xr s( Ce . C E p s P I)10和 2 0设计推出新的 e . T A S6和 S8 L7 1 m 0串行分析仪。泰克新的串行分析仪产品以独一无二的方式提供了详细的 P I 2 0 Ce . 协议信息及跨总线分析功能。它们增强了业内最完整的 P I测试解决方案， Ce使得开发下一代高速计算平台成为可能。 P I xr s .增强了计算机、 C p s 20 E e存储器和通信领域产品的性能。其主要增强功能是把速度从25G/ . b s提高到50 b s Ce .最大的验证挑战是以两 ./。P l 20 G 倍的速度捕获信号，验证电源管理，执行跨总线分析。 对于电源管理，它需要动态协商使用的通路数量或“链路宽度”最多 1路)链路速度(. b s一50 ( 6、 25G/ . G/) h s和空闲状态，才可以尽量的节约能耗。电源管理在系统中至关重要，这样笔记本电脑才可以延长电 池工作时间，服务器系统才能够节约能量。PC p e s2 0 I Ex r s .

P I 2 0链路可以动态改变宽度 ( Ce . 通路数量 )。例如，路链路 (8可以变成 4路(4, 8 x) x)后者要求的能耗较低；在系统需要时可以返回 x

。P I 20规 8 Ce . 范还允许链路在 2 5G/一5G/之间动态交替 . b s bs速度，同时支持 P I . Ce10和 2 0标准，不使用时。 .在 链路可以在短时间内进入空闲电源状态。在宽度和速度变化期间及在电源管理状态转换期间验证这些链路正常运行非常重要。泰克新的串行分析仪可以以独一无二的方式验证和调试这些链路流程的运行情况。跨总线分析

P l 20 Ce .是一种三层架构， 分为物理层(电气子块和逻辑子块)数据链路层和事务层。物理层的逻、辑子块是负责进行链路宽度、初始化和速度协商的。 数据链路层是保证发送到链路上的数据的正确性以及数据在链路上被可靠地分组传送。事务层是进行建立请求/结束交易、分组流量控制和消息传送的。 除串行分析仪外，新的 P 76 P78中间总线探 61/ 60头和预先发布的槽内插入器探头可以测试和验证 P I 2 0协议的所有层面。新分析仪插入泰克 Ce . T A 00系列逻辑分析仪中， L 70可以调试和关联通用信号及其它系统互连，包括存储器和计算机处理器。 “内正开始推广 P I pes .,业 C r 0预计将在今年 x E s2年底推出相应的产品和平台。英特尔公司技术规划和”行业市场总监 J aps,确保设备正确运行和互 i Ppa说“ m通的强大完善的测试工具对 P I Ep s20的持续 C— rs . x e成功至关重要，泰克提供了广泛的测试解决方案，在 P I Ep s20 C— xr s .产品开发中发挥了关键作用。 e” 电源管理 P I xr s .链路宽度和速度协商要求调试 C p s 20 E e物理层的逻辑子块，与协议分析工具不同，逻辑分析仪器能够提供详细的数据。泰克新的 T A S8和 L 70 T A S6串行分析仪可以分别采集 x、4 L71 1 x链路或 x 8链路。两块 T A S6串行分析仪模块可用于双向 L 71 x6链路。 1

随着电子系统的复杂程度不断提高，设计中在集成并行总线和高速串行总线的情况正日益普遍。 在许多情况下，仅查看 P I Ce总线是不可能调试系统级问题的。泰克 T A 00逻辑分析仪是唯一能够 L 70使用单个测试平台， P I、理器和存储器之问在 Ce处实现交互时

间相关的工具。 P I x r s 2 0探测 C—E p es . 泰克提供的一系列串行采集探头完善了 T A S8和 T A S6串行分析仪。设计人员可以 L 70 L71灵活地使用中问总线探头，受 P 78半宽度和享 60 P 7 6全宽度中间总线探头杰出的电气性能。较窄 61的链路宽度则可以利用 P 7 8的空间优势，大限 60最度地降低板卡空间。 完善的测试解决方案泰克 T A 00系列逻辑分析仪、 I S 6和 L 70 TA7 1 T A S 8串行分析仪、 6 1/ 6 0 L 70 P 76 P7 8中间总线探头和预先发布的槽内插入器探头可以测试和验证 PI Ce协议的所有层，括物理层、据链路层和事包数务层。 物理层逻辑子块的下面是电气子块。泰克为电气子块提供了最强大的 P I 20测试解决方案， Ce . 包括业内领先的 D A 00 S 70 0实时示波器和 D A 2 0采 S 80样示波器、 WG 0 0任意波形发生器和完整的测试 A 70软件。这种新一代泰克测量工具可以帮助工程师迎接 P I 20测试挑战。这些下一代仪器和应用软 Ce . 件解决方案构成了泰克全新、完善的高速串行数据测试解决方案的一部分。 供货情况新的串行分析仪和中间总线探头现已接受订货。 泰克公司的网址是 W W. k oi.o .n W t t n cm c er x o