手机测试学习笔记

一．对嵌入式手机操作系统的一点了解（来自记事本“ 51test 手机测试”）嵌入式操作系统：为完成某种特定功能而专门开发的操作系统。（只为完成某一项或几项功能）

手机的特殊性：要求对响应时间达到一定限制范围。（即嵌入操作系统实时性）。

嵌入式操作系统的特点：

1.和硬件息息相关（软硬件完美结合），女口CPU寄存器（CPU的处理运算能力是以MIPS

来衡量的，当然越快越好，但是也是和成本相关的）。

2.嵌入式程序是一个无限循环的程序，除非关掉电源和电源因素。

3.手机由存储器作为存储。（存储器分为几类，RAM 随即存储器，ROM 随即只读存储器还有现在

出现一些的闪存，以及电子可编程存储和非易失存储器）

RAM

**RAM 随机存储器，其中又有SRAM （静态RAM ）和DRAM （动态RAM）

**SRAM: 只要电源开着，就会保存，我们打电话，有些最后拨打的号码，暂时是存在SRAM 中的，不会立刻写入通话记录。只有正常关机，才会写入，如果取电池的话，是不会写入手机的通话记录的，如果在通话记录中出现了已经拨打电话，但是没有记录的情况，那么有可能和这个存储器有关，可能是你的软件上错误，也可能是硬件。

**DRAM:在手机上用的不多，因为保留数据时间很短，从价格上看，SRAM是非常昂贵

的，而DRAM 相比很便宜。

ROM

**ROM: ROM 也有几种，PROM可编程ROM和EPROM可擦除可编程ROM,还有FLASH

**PROM: 是一次性的，也就是软件灌入后，这个就完蛋了，这种是早期的产品，现在已经不可能使用了

**E PROM:是通用的存储器，这些存储器不符和手机软件产品，一般使用ROM少

**FLASH:近来手机采用最多的存储器，这种存储起结合了ROM和RAM的长处，但是不

属于RAM 也不属于ROM

NVRAM 非易失存储器

**NVRAM:手机大量采用的NVRAM非易失存储器是一个很特别的存储器，它和SRAM相类似，但是价格却高很多，由于一些数据实在重要，断电后必须保持这些数据，所以只能存放在这里，一般和个人信息有关的数据会放在这里，比如和S IM卡相关数据。容量大小也只有几百字节。

EEPROM 电子可擦出可编程存储器

**EEPROM:手机软件一般放在EEPROM中，EPROM是通过紫外光的照射，擦出原先的程序，而EEPROM是通过电子擦出，当然价格也是很高的，而且写入时间很长，写入很慢，所以前面提到的电话号码，一般先放在S RAM中，不是马上写入EEPROM因为当时有

很重要工作要做——通话，如果写入，漫长的等待是让用户忍无可忍的。

闪存存储器

** 闪存存储器:是所有手机的首选，综合了前面的所有优点，不会断电丢失数据（NVRAM）快速读取，电气可擦出可编程（EEPROM所以现在手机大量采用?

二?对手机黑盒测试的一点了解（来自记事本“手机黑盒测试详细介绍”）

Release test （发布测试）：

Purpose:测试手机的基本功能是否实现，是否有进一步测试的必要性

Attention（专注）:Release test的Test case具有一定典型性，主要反映手机最基本功能。

本类测试只需要依据Test case进行测试，不需要进一步的发挥。如果有发现与Case无关的Error,在测试通过后才可以填报Error。此类测试有一门槛值（Test case的pass率达到一定的百分比）才能宣布版本发布成功，进入进一步的测试，否则此版本无效。

System test （系统测试）：full round system test

Purpose:对手机的所有功能进行全面的测试（所有语言包），由于Case不可能包含所有

方面，所以测试时应适度发挥，尽力完成全面测试（Common System Test（medium or

mi nor））

Attention:System test 一般分为两个部分，跑测试用例和free test.贼测试初期，一般只需

要按照测试用例测，把一些不可重现的ERROR记录下来。同时遇到测试用例的问题或者

不充分，应该立即解决（和team leader或者Special list讨论，补写测试用例）。在这一阶段结束后，一般要写一个Summary report（总结报告）。把这一阶段遇到的问题，自己

的见解都写在里面。当所有的测试用例都测完后，就进入Free test期间。这里的free test

具有明确的目的性和范围。一般来说，这段时间的free test只需要测自己负责的模块。

而且Free test还负责重现前期跑测试用例时遗留的不可重现的ERROR.

Focus test（集合测试）

Purpose:集中于一个或几个点进行测试（同system test）

Stress test（压力测试）：

Purpose:为了解决市场上发现的重点error，而进行的有针对性的强度测，主要是利用边

缘测试（临界测试）手段

Attention:是给手机施加一定的压力，从而找出手机软件上的error.—般来说对手机施加

压力主要有：

**存储压力：由于手机采用的是栈式存储，所以当一个存储块满了之后，如果程序员不做相应处理或者处理不好的话，很容易造成其他存储区被擦除，从而在UI上出现问题（其他功能无法正常使用）。

**边界压力：边界一直是程序员最容易忽略的地方。

**响应能力压力：有时候某个操作可能处理的时间很长，在处理期间如果测试者在不断的进行其他操作的话，很容易出现问题。

**网络流量压力：如接电话时进行短信服务等等。

在项目中，stress test有时也会用来重现不可重现的error，由于有很多不可重现的error 是由于Memory leak （内存泄露）引起的，所以不停的重复同一个操作是重现一个不可重现的error 的一个好方法。

Free test:

Purpose:测试system test中没有做完的不可重现error,寻找平时没有找到的忽略的error. Attention:在system test阶段所用的free test具有明显的目的性和范围，平时的free test

从理论上应该对所测试的范围穷尽所用的测试方法。但是，是不现实的。在实际项目中,

主要有两个方面是free test:

** 一：从UI Spec上找，因为测试用例是依据UI spec写的，所以从UI Spec上突破是-

个行之有效的方法。Ui spec有一定的探索深度，加大探索深度，是一种突破的途径；

另外同一个功能用其他不同的方法去实现，也是一种突破途径。

**二：多关注不同的feature之间的in teraction。这是手机软件相对比较容易出问题，而测试用例有很少能反映的地方。这是一个很大的free test空间。