LCR数字电桥操作规范 (1)

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珠 海 君 柏生效日期 2012-08-01

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1. 目的: 为了使实验仪器操作方法规范，确保实验结果正确，延长仪器使用寿命，特制定本作业指导书. 2. 范围： 本作业指导书适用该仪器的使用操作 3. 职责： 工艺组: 负责仪器定期校验 实验室：负责仪器设备保养，作业指导书编写. 使用者：按照作业指导书使用仪器 4. 作业内容： 4.1. 仪器参数 4.1.1. 可测量参数:电感量 L、电容量 C、电阻 R、品质因素 Q、损耗角正切值 D. 4.1.2. 测量速度:快速 8 次/秒,慢速 4 次/秒, 低速 2 次/秒. 4.1.3. 测试信号电平 Vrms(有效值) :0.1V/0.3V/1.0V± 4.2. 功能键说明 1.主参数指示: 指示当前测量主参数(L、C、R) 2.参数显示:显示 L、C、R 3.主参数单位:指示当前测量主参数单位(如 pF、nF、μ F 等). 4.副参数显示:显示损耗 D 或品质因素 Q 5.副参数指示:指示当前测量副参数(D、Q) 6.等效键:设定仪器测量等效电路，一般选择串联等效电路. 7.速度键: 快速 8 次/秒,慢速 4 次/秒, 低速 2 次/秒. 8.清零键: 测电容时，测试夹具或测试电缆开路，按一下“清零”键， “开”灯亮，每次测试 自动扣去底数；测电感、电阻时，测试夹具或测试电缆短路后，按“清零”键. 9.锁定键: 灯亮仪器处于锁定状态，仪器测试速度最高. 10.接地端:用于被测元件之屏蔽地.

11.频率键 : 设定加于被测元件上的测试信号频率是 100Hz,1kHz 或 10kHz. 12.电平键:每按一下，选择

一种测试电平，分别在(0.1、0.3、1.0)V 三种电平中循环. 13 参数键: 每按一下，选择一种主参数，分别在 L,C,R 三种参数中循环. 14.电源开关:按下，电源接通；弹出，电源断开. 15.测试信号端 HD:电压激励高端；LD:电压激励低端； ※※ 本文件之著作权及营业秘密内容属于 HANWIN,非经公司允许不得翻印 ※※

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HS:电压取样高端；LS:电压取样低端. 4.3. 操作步骤： 4.3.1. 插上电源插头，将面板开关按至 ON.开机后，仪器功能指示于上次设定状态,预热 10 分 钟， 待机内达到平衡后，进行正常测试. 4.3.2. 测试参数选择, 使用“参数”键选择 L、C、R,单位如下： L:uH、mH、H(连带测试器件 Q 值) C:pF、nF、uF(连带测试器件 D 值) R:Ω 、kΩ 、MΩ (连带测器件间 Q 值) 4.3.3. 使用者应根据被测件的测试标准或使用要求按频率键、电压键，选择相应的测量频率、 测试电压.可选择 100Hz、1kHz、10kHz 三个频率，1V、0.3V、0.1V 三个电压. 4.3.4. 选择设置好测试参数、测试频率、激励电压后，用测试电缆夹头夹住被测器件引脚、焊 盘.待显示屏参数值稳定后，读取并记录. 4.3.5. 清“0”功能 4.3.5.1. 通过清除存在于测量电缆或测量夹具上的杂散电抗来提高测试精度，这些电抗以串联 或并联形式叠加在被测器件上，清“0”功能便是将这些参数测量出来，将其存储于仪 器中，在元件测量时自动将其减掉，从而保证仪器测试的准确性. 4.3.5.2. 仪器清“0”包括两种清“0”校准，即短路清“0”和开路清“0”.测电容时，先将夹 具或电缆开路，按方式键使“校测”灯亮；测电阻、电感时，用粗短裸体导线短路夹具 或测试电缆，按方式键使“校测”灯亮. 4.3.5.3. 可同时存放三组不同的清“0”参数，即三种频率各一种，相互并不干扰，仪器在不同 频率下其分布参数是不同的.因此，在一种频率下清“0”后转换至另一频率时需重新清 “0”.若某种频率以前已清“0” ,则无需再次进行.而掉电保护功能保证以前清“0”值 在重新开机后仍然有效，若环境条件(如：温度、湿度、电磁场等)变化较大则应重新 清“0”. 4.3.6. 等效功能 4.3.6.1. 实际电容、电感和电阻都不是理想的纯电阻或纯电抗元件，一般电阻和电抗成份同时 存在，一个实际的阻抗元件均可用理想的电阻器和电抗器(理想电感和理想电容)的串 联或并联形式来模拟.而串联和并联形式两者之间是可以从数学上相互转换的，但两者 的结果是不同的.其不同主要取决于元件品质因素 Q(或损耗因子 D). 4.3.6.2. 被

测电容器的实际等效电路首先可以规格书或某些标准的规定得到，如果无法得到的 话，可以用两个不同的测试频率下损耗因子的变化性来决定，若频率升高而损耗增加， 则应选用串联等效电路;频率升高而损耗减小， 则一应选用并联等效电路， 并联方式 D 与 频率成反比.于电感来说，情况正好与电容相反.

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4.3.6.3. 根据元件的最终使用情况来判定.用于信号耦合电容，则最好选择串联方式，LC 谐振 则使用并联等效电路. 4.3.6.4. 没有更合适的信息，则可根据以下信息来决定： 低阻抗元件(较大电容或较小电感)使用串联形式； 高阻抗元件(较小电容或较大电感)使用并联形式. 一般地，当|Zx|<10Ω ,应选择串联等效形式； 当|Zx|>10k Ω ,应选择并联等效方式； 当 10 Ω <|Z|<10k Ω ,根据实际情况选择合适的等效方式. 仪器开机时，初始化为“串 联”. 4.3.7. 测量速度选择, 所有仪器开机默认为中速测试，其测试精度和速度成反比，即速度越慢 精 度越高.但效率低，应根据实际情况选择合适的速度，一般选择中速，由面板上 的速度按键来选择. 4.3.8. 电平选择, 一般高测试电平用于常规的元件测试(电容、电阻和某些电感) ,低测试电 平用于需低工作信号电平的器件(如半导体器件、电池内阻、电感和一般非线性阻抗元 件).对于某些器件来说，测试信号电平的改变将会使测量结果产生较大的变化，如一 些电感性元件尤其如此. 4.4. 操作注意事项 4.4.1. 电源输入相 …… 此处隐藏：2276字，全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……